基于fpga的高速数模转换器测试技术分析-电子与通信工程专业论文.docxVIP

摘 摘 要 基于 基于 FPGA 的高速数模转换器测试技术研究 摘 要 现代电子设备中越来越多使用到了集成电路，其中同时具有数字功能和模拟 功能的混合信号集成电路在军事和通信领域中均起着尤为重要的作用。集成电路 芯片的性能优劣往往决定着电子设备中整个电路的功能好坏，因此在芯片使用之 前必须要了解其性能参数，需要对集成电路芯片进行测试与测量。 本文主要讨论了高速数模转换器的测试技术，研究并设计了一种基于 FPGA 适用于高速数模转换器的测试方案，其中待测芯片为一款 16 位 1GSPS 高速数模 转换器 XMD1602。在该方案中，整个测试系统可分为测试平台基板和测试平台 子板两部分，其中测试平台基板的核心是 FPGA 芯片，负责提供测试数模转换器 过程中需要的各种数字信号，测试平台子板的核心就是待测数模转换器 XMD1602 芯片。根据数模转换器性能参数的定义及测试原理，本论文不仅完成了测试系统 硬件电路的原理图设计和 PCB 设计，还完成了测试系统所需的软件设计，并最终 完成了 XMD1602 芯片静态特性参数和动态特性参数的测试与测量工作。 本论文给出了高速数模转换器 XMD1602 的最终测试结果。XMD1602 芯片的 DNL 为 1.28LSB，INL 为 2.36LSB；在输入采样时钟为 250MHz 的条件下，当数 字信号输入为 30.6MHz 时 SFDR 为 68.21dB；在输入采样时钟为 500MHz 的条件 下，当数字信号输入为 30.6MHz 时，SFDR 为 74.57dB；在输入时钟为 1GHz 的 条件下，当数字信号输入为 30.6MHz 时，SFDR 为 53.41dB。 关键字：高速数模转换器 FPGA 性能参数 测试与测量 Abstract Abstract 基于 基于 FPGA 的高速数模转换器测试技术研究 Abstract Nowadays, more and more integrated circuits have been used in modern electronic devices, especially chips which have both digital and analog functions, play a particularly important role in military and communications. As the function of the entire electronic device is always determined by the performance of the IC chips used in the circuits, so have knowledge of the performance parameters of the chips before using them is needed, and that requires test and measurement of the integrated circuit chips. This thesis focuses on the test and measurement technology of high-speed digital-to-analog converter, and a test and measurement scheme based on FPGA chips is designed suitable for the chip XMD1602, a 16-bit 1GSPS high-speed DAC. In this scheme, the whole test and measurement system can be divided into two parts, which are test-platform mother-board and test-platform daughter-board. The mother-board mainly consists of the FPGA chip, which is responsible for providing digital signal used for test, and daughter-board manly consists of the DAC chip XMD1602. According to the definition of the performance parameters of D/A converter, in this thesis, not only does complete the circuit