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基于b样条曲面拟合和snake模型的mura缺陷检测方法研究-电子与通信工程专业论文
独创性声明
本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作 及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方 外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为 获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与 我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的 说明并表示谢意。
作者签名: 日期: 年 月 日
论文使用授权
本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘, 允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全 部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描 等复制手段保存、汇编学位论文。
(保密的学位论文在解密后应遵守此规定)
作者签名: 导师签名:
日期: 年 月 日
I
I
摘要
摘要
Mura 缺陷是广泛存在于 TFT-LCD 上最难检测的一类显示缺陷,具有低对比 度、无清晰边缘、亮度不均匀等特性。当前,国内外主要 TFT-LCD 厂商仍采取人 工视觉检测的方式检测该类缺陷,无法满足平板显示产业高度自动化、标准化的 要求,迫切需要快速准确的 Mura 缺陷机器检测方法。
基于当前 Mura 缺陷机器检测现状,提出一种快速准确的 Mura 缺陷自动检测 方法。该检测方法分为三大部分:图像预处理、背景抑制和缺陷分割。在图像预 处理部分,针对 TFT-LCD 区域外背景干扰、TFT-LCD 区域发生倾斜和几何形变等 问题,采用 Hough 变换求取倾斜角并使用旋转公式矫正,通过 Harris 角点检测提 取区域角点并将其完整无损地提取出来。此后,通过 Butterworth 低通滤波器对感 兴趣区域进行滤波。在背景抑制部分,针对图像的整体亮度不均匀、背景复杂等 问题,在传统最小二乘双三次 B 样条曲面拟合的基础上,提出增添了光顺项的改 进背景抑制方法,解决传统 B 样条曲面拟合由于拟合精度过高而导致的 Mura 缺陷 被削弱的问题。为提高拟合速度,通过乘积型原理对双三次 B 样条曲面函数分步 求解,并采用数据压缩和分块拟合的方法进一步提高算法效率。在缺陷分割部分, 提出改进的 Snake 模型进行缺陷分割。为了解决 Mura 缺陷的形状和数量不定的分 割难题,采用自适应的初始曲线,并引入水平集函数以分割数目不定的 Mura 区域。 为提升算法性能,根据零水平线二值曲线的长度设置终止条件以减少迭代次数, 并采用 AOS 格式对 Snake 模型进行求解,从而实现了 Mura 缺陷的准确快速检测。 最终,根据上述检测方法建立了 Mura 缺陷检测系统,采用行业内国际通用的 SEMU 标准量化检测结果并给待检测 TFT-LCD 评级。
为验证检测方法和系统,从生产线随机抽取 100 个样本进行实验,检测准确 率为 99%,检测时间不超过 30s,准确性和算法性能较现有的人工视觉检测及机器 检测方法均有一定的提高。实验结果表明,提出的 Mura 缺陷自动检测方法和建立 的检测系统,能够实现 Mura 缺陷的准确、稳定、高效检测。
关键词:Mura 缺陷,Hough 变换,Harris 角点检测,B 样条曲面拟合,Snake 模型
II
II
ABSTRACT
ABSTRACT
As a kind of outward appearance defects that widespread exist in Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, which is known as TFT-LCD, Mura defects are the most difficult defects to be detected accurately. Because of its character of low contrast, no sharp edges and uneven brightness, Mura defects are so hard to be recognized by Machine Vision that domestic and international leading TFT-LCD manufactures still have to rely on Artificial Visual Inspection(AVI) to detect such defects. However, the result of AVI cannot meet the Flat Panel Display industry’s requirements of highly automated, standardized
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