基于fpga的容错计算与通信验证平台-电子与通信工程专业论文.docxVIP

3 3 to test the sensitive position in the design. Test results show that, this testing platform for fault injection is effective. KEY WORDS: FPGA, SEU, fault injection, partial reconfiguration i i 目 录 第一章 绪论1 1.1 研究背景和意义1 1.2 研究现状与分析2 1.2.1 卫星搭载试验2 1.2.2 地面辐射测试实验2 1.2.3 故障注入实验3 1.3 论文主要工作及内容安排4 第二章 平台的方案设计6 SRAM 型 FPGA 的优势和结构特点 6 SRAM 型 FPGA 的 SEU 概述 8 SEU 产生机理 8 SEU 对 SRAM 型 FPGA 的影响 8 2.3 平台的方案设计9 2.3.1 故障注入方案10 2.3.2 平台工作流程11 2.4 本章小结13 第三章 平台硬件的电路设计及实现14 3.1 平台设计需求分析及硬件架构14 3.2 电源模块15 3.3 配置模块16 3.3.1 Virtex 配置方案 17 3.3.2 主串配置电路设计19 3.3.3 SelectMAP 配置电路设计 20 3.3.4 配置比特流文件转存电路设计22 3.4 通信接口转换模块23 3.5 平台的电路实现25 3.6 本章小结27 第四章 平台功能的实现与验证28 4.1 平台功能总体架构设计28 4.2 通信接口功能实现29 UART 接口工作原理 29 ii ii HYPERLINK \l _TOC_250006 UART 功能实现 29 4.3 命令解析功能实现31 HYPERLINK \l _TOC_250005 4.4 从属 FPGA 配置数据存储功能实现 31 HYPERLINK \l _TOC_250004 4.4.1 并行 PROM 中数据的读取 32 HYPERLINK \l _TOC_250003 4.4.2 SRAM 读写时序 32 HYPERLINK \l _TOC_250002 4.4.3 SRAM 中配置数据的存取 34 4.5 从属 FPGA 配置功能实现 35 HYPERLINK \l _TOC_250001 Virtex FPGA 的 SelectMAP 配置模式 35 HYPERLINK \l _TOC_250000 SelectMAP 配置流程 37 4.5.3 从属 FPGA 配置状态机的设计 38 4.6 故障注入功能实现38 4.6.1 FPGA 配置文件结构 39 4.6.2 配置数据寻址42 4.6.3 配置数据的修改与遍历44 4.6.4 部分重构配置45 4.7 平台功能验证47 4.7.1 测试电路设计47 4.7.2 测试与结果分析48 4.8 本章小结49 第五章 总结与展望50 参考文献51 发表论文和参加科研情况说明56 致 谢57 第一章 第一章 绪论 PAGE PAGE 1 第一章 绪论 1.1 研究背景和意义 卫星和航天器工作的宇宙空间中存在大量的高能粒子[1, 2]。这些高能粒子对 于空间仪器设备中半导体器件的影响称之为辐射效应。辐射效应会导致卫星和航 天器中部分电路功能出错，甚至造成整个电子系统永久失效。根据产生机理的不 同，辐射效应主要分为总剂量效应（Total Ionizing Dose，TID）和单粒子效应 （Single Event Effect，SEE）两大类[3, 4]。总剂量效应指半导体器件长时间处于 辐射环境中，由于高能粒子不断积累而产生的改变；单粒子效应指高能粒子射入 半导体器件后，由辐射效果立即作用所产生的改变。自 1975 年第一次发现由 SEE 导致的设备功能错误[5]以来，近 40 %的卫星失效是由空间环境的 SEE 引发[6]。 根据高能粒子入射情况的不同，半导体器件中所产生单粒子效应的具体情况 也不相同，主要包括单粒子瞬态（Single Event Transition，SET）、单粒子翻转 （Single Event Upset，SEU）、单粒子闩锁（Single Event Latch-up，SEL）和单粒 子功能中断（Single Event Function Interrupt，SEFI）等[7]，情况简述如表 1-1。表 1-2 是对 1971 年到 1986 年间 39 颗卫星发生故障情况的统计[8]，通过分析可以看 出单粒子效应中的单粒子翻转是引发卫星故障的最主要因素之一。 表 1-1 不同种类