粒子诱发x思射线荧光分析.pptVIP

粒子诱发X射线荧光分析Particle Induced X-ray Emission（PIXE) 3.1.引言： 1. 粒子诱发x射线荧光分析（PIXE）是粒子束分析的一个重要分支。 2.其开创者是Sven A. E. Johansson等人[1]，于1970年首次开展这方面的工作，并为人们所重视，且日益广泛的被大家采用。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research，84（1970）P141 3.1.引言： 3.2. PIXE分析原理: 粒子束与原子相互作用的物理图像。 3.3. PIXE分析实验设备: 3.4. PIXE定量分析方法 3.4. PIXE定量分析方法 相对测量 单标准测量法 3.4. PIXE定量分析方法 PIXE定量分析获取的谱图实例 图上的横坐标时能量（keV）；纵坐标为计数（个）。 Si(Li)探测器介绍 * * Department of Modern Physics in Lanzhou University Lanzhou University 主讲：Zhang Xiaodong 3. PIXE分析具有灵敏、快速、取样少和无损 分析等特点。 4. 该方法对大多数元素（Z≥12）是很灵敏的 其相对灵敏度为PPm（即百万分之一）量级， 可检测的元素含