第三章原子发木射光谱法.pptVIP

第三章 原子发射光谱法 一 原子发射光谱法 二 摄谱分析法 三 光电直读法 四 火焰光度法 五 原子荧光分析法 一 原子发射光谱法（AES）： 根据原子或离子在一定条件下受激后所发射的特征光谱来研究物质化学组成及含量的方法。 二 摄谱法： 采用感光板照相记录，将所拍摄的谱片在映谱仪和测微光度计上进行定性和定量分析。 三 光电直读法： 将元素特征的分析线强度通过光电转换元件转换为电信号直接测量待测元素含量。 四 火焰光度法： 以火焰为激发源的原子发射光谱法。 五 原子荧光分析法： 以光能为激发源的原子发射光谱法。 电感耦合等离子体原子发射光谱仪 Vista MPX（美国VARIAN公司） 第三章 原子发射光谱法 第二节 原子发射光谱法的基本原理 一 原子发射光谱的产生 定性分析：用足够的能量使原子受激发而发光时，根据某元素的特征谱线是否出现，即可确定试样中是否存在该种原子。 定量分析：试样中待测原子数目越多（浓度越高），则被激发的该种原子的数目也就越多，相应发射的特征谱线的强度也就越大，将它和已知含量的标样的谱线强度进行相比较，即可确定试样中该种元素的含量。 二 原子发射光谱线 原子线：原子外层电子的能级跃迁所产生的谱线。 激发电位：原子从基态跃迁到发射该谱线的激发态所需要的能量。 共振线：凡是由高能态跃迁回基态时所发射的谱线。 主共振线：共振线中从第一激发态跃迁到基态所发射的谱线。 电离：如果给予原子以足够大的能量，则可能使其外层电子脱离原子核的束缚而逸出，使原子成为带正电荷的离子。 电离电位：使原子电离所需要的最低能量。 元素谱线表：I 表示原子发射的谱线； II 表示一级离子线； III表示二级离子线； 如Mg I 285.21 nm ；Mg II 279.55 nm； 三 谱线强度 四 谱线的自吸与自蚀 1.自吸：原子在高温区发射某一波长的辐射，被处在边缘低温状态的同种原子所吸收的现象。 2.自蚀：当元素浓度低时，不表现自吸现象。当浓度大时，自吸增强。当达到一定含量时，由于自吸严重，谱线中心的辐射完全被吸收。 第三章 原子发射光谱法 第三节 原子发射光谱仪 一 摄谱仪与光电直读光谱仪 摄谱仪：利用感光板来记录元素辐射的谱线，对试样元素进行定性、定量分析 光电直读光谱仪：用光敏元件来接受分析谱线，并将其强度信号转换成电信号，通过读出系统直接读出谱线强度或分析结果。 二者均由激发源、分光系统和检测系统三个部分组成，主要区别是检测系统。 1.激发源：为试样蒸发、原子化和激发提供所需要的能量，从而产生发射光谱。 目前常用的激发源是直流电弧、交流电弧、高压火花和电感耦合等离子体。 （1） 直流电弧光源 两个碳电极为阴阳两极，试样装在阳极的孔穴中，直流电弧引燃常采用高频引燃装置，或使上下电极接触短路，随即拉开，电弧被引燃 （2）低压交流电弧光源 （3）高压火花光源 （4）电感耦合等离子体（ICP）： 等离子体：一般指有相当电离程度的气体，它由离子、电子及未电离的中性粒子所组成，其正负电荷密度几乎相等，从整体看呈中性。能导电。 优点：灵敏度高，稳定性好，试样消耗少，线性范围范围宽。 缺点：仪器价格贵；工作时成本较高。雾化效率低，对气体和一些非金属等测定的灵敏度低，固体进样问题尚待解决， 适用范围：适宜于难激发的或易氧化的元素分析。 ICP-AES重要部件示意图 几种光源的比较 2.分光系统：将样品中待测元素的激发态原子（或离子）所发射的特征光经分光后，得到按波长顺序排列的光谱。 （1）棱镜分光系统：用石英棱镜为色散元件，适用于紫外和可见光区。 （2）光栅分光系统：用光栅为色散元件 3.检测系统：将原子的发射光谱记录或检测出来，以进行定性或定量分析。 （1）摄谱检测系统：把感光板置于分光系统的焦平面处，通过摄影、显影、定影等一系列操作，把分光后得到的光谱记录和显示在感光板上，然后通过映谱仪放大，同标准图谱比较或通过比长计测定待测谱线的波长，进行定性分析；通过测微光度计测量谱线黑度，进行定量分析。 S与照射在感光板上的曝光量H有关，S与H之间的关系可用乳剂特性曲线描述。直线部分可用方程表示： 由于曝光量H等于感光板接受的曝光时间t和曝光强度I的乘积 该式表示了谱线黑度与谱线强度的关系。 摄谱法的优点 可同时记录整个波长范围的谱线 分辨能力强 可用增加曝光时间的方法来增加谱线的黑度 （2）光电检测系统：利用光电倍增管一类的光电转换器，连接在分光系统的出口狭缝处，将谱线的光信号变为电信号，再送入电子放大装置，直接由指示仪显示，或者经过模数转换，由电子计算机进行数据