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实验内容 AMI码编码规则验证 首先将输入信号选择跳线开关KD01设置在M位置（右端）、单/双极性码输出选择开关设置KD02设置在2_3位置（右端）、AMI/HDB3编码开关KD03设置在AMI位置（右端），使该模块工作在AMI码方式。 将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在2_3位置（右端），产生7位周期m序列。用示波器同时观测输入数据TPD01和AMI输出双极性编码数据TPD05波形及单极性编码数据TPD08波形，观测时用TPD01同步。分析观测输入数据与输出数据关系是否满足AMI编码关系，画下一个M序列周期的测试波形。 将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在1_2位置（左端），产生15位周期m序列。重复上述测试步骤，记录测试结果。 将输入数据选择跳线开关KD01拨除，将示波器探头从TPD01测试点移去，使输入数据端口悬空产生全1码。重复上述测试步骤，记录测试结果。 将输入数据选择跳线开关KD01拨除，用一短路线一端接地，另一端十分小心地插入测试孔TPD01，使输入数据为全0码（或采用将示波器探头接入TPD01测试点上，使数据端口不悬空，则输入数据亦为全0码）。重复上述测试步骤，记录测试结果。 AMI码译码和时延测量 将输入数据选择跳线开关KD01设置在M位置（右端）；将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在1_2位置（左端），产生15位周期m序列；将锁相环模块内输入信号选择跳线开关KP02设置在HDB3位置（左端）。 用示波器同时观测输入数据TPD01和AMI译码 输出数据TPD07波形，观测时用TPD01同步。观测AMI译码输出数据是否满正确，画下测试波形。问：AMI编码和译码的的数据时延是多少？ 将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在2_3位置（右端），产生7位周期m序列。重复上译步骤测量，记录测试结果。问：此时AMI编码和译码的的数据时延是多少？ 思考：数据延时量测量因考虑到什么因数？ AMI编码信号中同步时钟分量定性观测 将输入数据选择跳线开关KD01设置在M位置（右端），将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在1_2位置，产生15位周期m序列；将锁相环模块内输入信号选择跳线开关KP02设置在HDB3位置（左端）。 将极性码输出选择跳线开关KD02设置在2_3位置（右端）产生单极性码输出，用示波器测量模拟锁相环模块TPP01波形；然后将跳线开关KD02设置在1_2位置（左端）产生双极性码输出，观测TPP01波形变化。通过测量结果回答： = 1 \* GB3 ① AMI编码信号转换为双极性码或单极性码后，那一种码型时钟分量更丰富，为什么？ = 2 \* GB3 ②接收机应将接收到的信号转换成何种码型才有利于收端位定时电路对接收时钟进行提取。 将极性码输出选择跳线开关KD02设置在2_3位置（右端）产生单极性码输出，使输入数据为全“1”码（方法见1），重复上述测试步骤，记录分析测试结果。 使输入数据为全“0”码（方法见1），重复上述测试步骤，记录测试结果。 思考：具有长连0码格式的数据在AMI AMI译码位定时恢复测量 将输入数据选择跳线开关KD01设置在M位置（右端），将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在1_2（或2_3）位置，将锁相环模块内输入信号选择跳线开关KP02设置在HDB3位置（左端）。 先将跳线开关KD02设置在2_3位置（右端）单极性码输出，用示波器测量同时观测发送时钟测试点TPD02和接收时钟测试点TPD06波形，测量时用TPD02同步。此时两收发时钟应同步。然后，再将跳线开关KD02设置在1_2位置（左端）单极性码输出，观测TPD02和TPD06波形。记录和分析测量结果。 将跳线开关KD02设置回2_3位置（右端）单极性码输出，再将跳线开关KD01拨除，使输入数据为全1码或全0码（方法见 思考：为什么在实际传输系统中使用HDB3码 HDB3码 首先将输入信号选择跳线开关KD01设置在M位置（右端）、单/双极性码输出选择开关设置KD02设置在2_3位置（右端）、AMI/HDB3编码开关KD03设置在HDB3位置（左端），使该模块工作在HDB3码 将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在2_3位置（右端），产生7位周期m序列。用示波器同时观测输入数据TPD01和AMI输出双极性编码数据TPD05波形及单极性编码数据TPD08波形，观测时用TPD01同步。分析观测输入数据与输出数据关系是否满足AMI编码关系，画下一个M序列周期的测试波形。 将CMI编码模块内的M序列类型选择跳线开关KX02设置在1_2位置（左端），产生15位周期m序列。重复上述测试步骤，记录测试结果。 使输入数据端口