基于线阵CCD在线亚像素边缘测量系统.pdfVIP

第32卷 第4期 武 汉理 工大学学报 ·信 息与 管理工 程版 Vol_32No．4 2010年8月 JOURNALOFWUT(INFORMATIONMANAGEMENTENGINEERING) Aug．2010 文章编号：1007—144X(2010)04—0526—04 文献标志码 ：A 基于线阵CCD的在线亚像素边缘测量系统 雷 波，卢 红 (武汉理工大学 机电工程学院，湖北 武汉 430070) 摘 要：为了提高精密矫直机测量工件挠度的精度和效率，提出了一种集成FPGA的在线亚像素边缘测量系 统。详细介绍了利用线阵CCD对工件挠度进行非接触测量的系统原理和流程，利用CCD图像信号边缘梯度 的特性，介绍了一种基于多项式插值且易于集成在FPGA的亚像素边缘检测算法。仿真实验证明，该测量系 统重复性误差为0．18个像元，达到了亚像素测量精度。 关键词：挠度测量 ；亚像素；线阵CCD；FPGA 中图分类号：TP274．5 DOI：10．3963／j．issn．1007—144X．2010．04．003 直线条材零件经热处理后，由于受热应力和组 小、便于安装等优点；半导体激光器发出的激光束 织应力的影响，不可避免地会出现弯曲变形。由于 经过光学镜头2扩束放大后形成准直度高、发射 零件一般需反复测量和多次矫直才能达到要求，因 角小的红色激光束；3为被测工件；激光光束沿着 此，精密矫直机 中测量系统的测量精度和效率直接 垂直于工件轴 向射向工件的表面，工件会将其 中 影响到矫直机的加工精度和效率。随着非接触测 一 部分光束挡住 ，而另一部分光束在线阵CCD4 量技术的迅猛发展，线阵CCD因其响应速度快、信 的靶面上成像。CCD靶面上成像的亮区长度为 号易处理、精度高和无磨损的特点而广泛应用于一 ，。 如果 ，为标准工件测量结果，那么当工件表 维尺寸测量中。但是由于CCD测量精度被像元尺 面尺寸产生变化时，成像的亮区长度变为 ，则 寸所限制，而传统改善精度的方法，如提高制造工 成像区亮区长度变化量AX即为工件挠度。 艺减小CCD传感器的像元尺寸、采用光学系统放 大等措施，成本较高且效果不明显。因此，人们开 始采用边缘检测算法来提高测量精度，从而突破像 元尺寸的限制。通常使用的边缘检测算法有插值 法 ¨J、空间灰度矩法 和曲线拟合法 等， 但是空问灰度矩法和曲线拟合法计算量大，实时响 应速度慢，不利于在线亚像素测量。笔者介绍了一 种基于多项式插值算法的在线高速测量系统。该 系统利用高速AD转换芯片对线阵CCD的视频信 图1 CCD测量系统光路图 1一半导体激光器；2～光学镜头； 号进行AD转换，并 由FPGA对转换的信号进行高 3一被测工件；4一cCD靶面 速采集、存储和处理，最后将测量结果发送给精密 矫直机的控制系统。 测量工件挠度实际是将工件表面尺寸与标准 值，即基准值进行 比较的过程。挠度测量流程如 1 精密矫直工件测量系统 图2所示。首先对系统进行标定 ，即测量一个标 1．1 测量系统原理 准件 ，在 CCD靶面上获得一个基准位置。以后每 测量系统的光路图