电池组件-热击穿.pptVIP

* * * * 组件的热击穿 * 相关图片 发热点造成了组件背板被烧穿和大的鼓包。 * 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 发热点位置分布 * 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 1 2 3 4 5 6 EL测试照片及发热点位置分布对应图 * 原始测试相关数据 * 退回后重测数据 * 组件的热击穿 1、EL测试照片显示组件电池片碎片、裂片非常严重。72片中只有11片完整没有碎裂。第三串、第四串红点处均为热击穿造成P-N结损坏。从EL照片上看，因没有电注入少数载流子显现黑色。 2、假设3-11处橙红处，由于原先是隐裂，在环境作用下变为明裂断开。引用Wenham教授应用光伏学5-5热点过热（如图）。“坏”电池和二极管上消耗的能量约等于一个“好”电池的输出能量，这个消耗的能量是使“坏”电池发热的能量。“坏”电池处于热击穿的过程中，由于热产生大量载流子，这些载流子使晶片处于负阻状态，在反偏电压作用下又产生热，使结温升高直至P-N损坏。 分析： * 组件的热击穿 3、在这个过程中EVA加热分解，EVA（乙烯-醋酸乙烯共聚物）分子式： 由于CO、CO2处于被TPT玻璃密封环境，气体压力急剧上升。当气体压力大于TPT与未燃烧EVA的粘结力时依据压力大小，在发热点处形成大小不一的凸泡。当然TPT在受热时也会强度降低。当气体压力大于TPT分子团之间引力时，TPT就爆穿了。玻璃破裂也是局部过热所致。众所周知，钢化玻璃一旦某一点破裂，就会导致整块玻璃溃裂。 （C2H4)x(C4H6O2)y mCO + nCO2 +pH2O 燃烧 * 组件的热击穿 肯定是消除组件层压过程中的裂片和隐裂。今天的隐裂就是明天的裂片。虽然，克服裂片和隐裂做了很多的工作，但现状还不尽人意的。 改进措施 * 组件的热击穿 上面的案例应该是个案，但是产生“热击穿”的因素还是广泛存在着。 * 组件的热击穿 * 组件的热击穿 上述照片和红外相片是从光伏电站拍摄而得。见电池地方说明受热化冰了，红外相片，可以清楚看到发热的太阳电池发生了热击穿。但是一旦发生热击穿并不立即烧毁太阳电池的P-N结。这是因为组件处于户外低温环境中，热阻小散热条件较好。组件TPT玻璃均处于动态温度平衡之中。这个动态平衡温度远低于损坏P-N结时结温。故组件太阳电池不会损坏，但也不能说组件不存在质量问题。 * 组件的热击穿 * 组件的热击穿 * 组件的热击穿 * 组件的热击穿 单晶电池TR图，揭示了组件光伏特性、光热特性，它们是存在有机的内在联系的。导致“曲线台阶”组件，台阶部份是损失功率部份，恰之是提供“热击穿”热量。造成“热击穿”的主要原因是黑心片、黑斑片。 * 组件的热击穿 由于黑心片、黑斑片造成电池片发热，对电池片EVA会有加速降解失效的危险，对组件电池的寿命承诺难以保证。 * 形成黑心片、黑斑片主要成因 * EL成像下黑心片、黑斑片的照片： * EL光强度和少子分布密度成正比： EL照片中黑心片和黑斑片是反映在通电情况下该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心和黑斑，发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。 * 黑斑与杂质原子分布无关： B P C O Al Cr Mn Fe Ni 黑圈 2-1 1.30E+16 2E14 1e16 1.06E+18 7E13 5E12 1E13 1E13 1E14 2-2 1.31E+16 2e14 1e16 1.02E+18 7E13 5E12 1E13 1E13 1E14 黑斑 4-1 1.07E+16 1.10E+15 3.10E+16 1.31E+18 7E13 1E13 1E13 3E13 1E14 4-2 1.10E+16 1.00E+15 3.30E+16 8.7E+17 7E13 3E13 1E13 3E13 1E14 一般少数载流子的寿命和含污染杂质含量及位错密度有关。蒋仙作出了黑斑处边界两边（即有黑斑处和无黑斑处）杂质原子SIMS试验发现两边杂质原子含量一样，没有变化。 SIMS测试结果： * 黑斑处位错密度： 这样少数载流子的寿命和位错密度有关，蒋仙测了单晶黑斑中心区域位错密度107 个/cm2 ，如下面两张图所示： * 中心黑斑区域，位错密度107个/cm2 * 黑斑边缘区域，位错密度106个/cm2  * 无位错密度标准≤3000个/cm2 黑斑边缘区域位错密度106