电工电子测量电子教案6-8章.pptVIP

第8章 数据域测量与仪器 知识要点： 数据域测试方法 逻辑分析仪的触发方式与显示方式 逻辑笔与逻辑分析仪的应用。 8.1 数据域测量的基本概念 8.1.1 数据域测量的特点 8.1.2 数字信号与数字系统的特点 数字信号是非周期性的 数字信号是按时序传输的 数字信号是多通道传输的 数字信息的传输方式多种多样 数字信号的变化速度较快 数字系统的故障判别与模拟系统不同 8.1.3 数据域测试仪器设备 万用表和数字电压表 逻辑笔和逻辑夹：逻辑笔和逻辑夹常用于测试简单数字电路的状态，即测出电路某一点的状态是高电平、低电平，还是脉冲。 逻辑脉冲发生器（LG，Logic Generator） 逻辑分析仪：逻辑分析仪是多线示波器与数字存储技术发展的产物，又称为逻辑示波器。能够对逻辑电路、软件等的逻辑状态进行记录和显示，实现对逻辑系统的分析。 示波器 8.1.4 逻辑笔和逻辑夹 1. 逻辑笔 特点：结构简单、使用方便。 功能：测试一般门电路和触发器的逻辑关系。 具有记忆功能：测试某点为高电平时，红灯点亮，如此时移开测试点，红灯仍亮。不需要记录此状态时，扳动存储开关复位。 两个插孔：各提供正、负选通脉冲，其中一个插孔与被测电路某一点相接，将随选通脉冲的加入而作出响应，如图8.2所示。 逻辑笔的组成: 2. 逻辑夹 特点：可同时显示多个端点的逻辑状态。 电路结构： 8.2 数据域测试技术 8.2.1 数字电路的简易测试 8.2.2 数据域测试方法 穷举测试法：输入被测电路所有可能的组合信号，然后测试与每一种输入组合信号相对应的全部输出是否正确。 优点：能测试出存在的全部故障。 缺点：测试时间较长。 伪穷举测试法：把一个大电路划分成多个子电路，对每个子电路进行穷举测试。 随机测试法：随机数据流同时输入给被测电路和已知功能完好的参考电路；然后对两个输出进行比较；最后根据比较结果给出“合格/失效”的指示。 8.2.3 故障类型、故障测试及故障定位 1. 故障类型 分类：物理故障和逻辑故障。 物理故障：由于数字电路内部连线断开或短接、元器件不良等原因产生的故障。 逻辑故障：数字电路内部逻辑控制不正确产生的故障。 固定性故障或永久故障：不随时间改变的故障。 间发故障或间歇故障：时隐时现的故障。 2. 故障测试与故障定位 故障测试方法分类：静态测试和动态测试。 静态测试：不加输入信号或加固定电位时的测试，以判断电路各点电位是否正确。 适用场合：用于检测物理故障，根据有问题的电位点，可将故障定位于某个器件。 动态测试：在输入各种可能的组合数据流，通过测试输出数据流情况判断输出逻辑功能是否正确。 适用场合：用于检测复杂数字系统的逻辑故障。 特点：既可检测系统逻辑故障，又可检测系统物理故障，并最终将检测出的故障定位于一定范围内。 8.3 逻辑分析仪 定义：以单通道或多通道实时获取与触发事件相关的逻辑信号，并显示触发事件前后所获取的信号供软件及硬件分析的一种仪器。 功能：能够用表格、波形或图形等形式显示具有多个变量的数字系统的状态，也能用汇编形式显示数字系统软件，从而实现对数字系统硬件和软件的测试。 8.3.1 逻辑分析仪的分类 分类：逻辑状态分析仪和逻辑定时分析仪。 逻辑状态分析仪：以二进制、十六进制或ASCⅡ码等状态显示被测逻辑状态，由被测系统提供采集数据的时钟脉冲，侧重于软件分析。 逻辑定时分析仪：采用与示波器同样的方式显示信息，水平轴代表时间，垂直轴代表电压幅度，由自身提供数据采集时钟脉冲，用于硬件分析。 8.3.2 逻辑分析仪的组成 被测信号经输入探头形成并行数据送至比较器，输入信号大于门限电平时，比较器在相应线上输出经整形的高电平信号；反之，输出低电平信号。 比较器输出信号送至采样器与触发器。采样器在内部时钟或外部时钟脉冲控制下对输入信号进行采样。采样信息按顺序、以“先进先出”的原则存放在存储器内。 在满足触发条件的情况下，由触发器产生的脉冲用于启动或结束数据的采样与存储。 8.3.3 逻辑分析仪的触发方式 功能：可同时采集多路信号，以便于对被测系统正常运行的数据流逻辑状态和各信号间的相互关系进行观测和分析。 触发：由一个事件来控制逻辑分析仪的数据获取，即选择观察窗口的位置。 触发事件：数据字、数据字序列或其组合、某一个通道信号出现的某种状态、毛刺等。 通道触发：以某一通道状态作为触发条件的，即当选择的通道出现状态“1”或“0”时触发。 毛刺触发：以毛刺作为触发条件，即在信号中出现毛刺时触发。 毛刺：指在相继的时钟采样脉冲之间瞬间通过门限电压两次或多次的信号，它是非固有的偶尔发生的信号瞬态过程。 字触发：以数据字作为触发条件，即当数据流中出现该触发字时触发，该数据字称为触发字。 字触发方式: 1. 组合触发(基本字触发方式)