原创力文档- 1、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
单粒子翻转二维成像技术.PDF
第 10 卷 第 5 期 信 息 与 电 子 工 程 Vo1．10，No．5
2012 年 10 月 INFORMATION AND ELECTRONIC ENGINEERING Oct．，2012
文章编号： 1672-2892(2012)05-0608-05
单粒子翻转二维成像技术
1 1 1 1 1 1 1 2 2
史淑廷 ，郭 刚 ，王 鼎 ，刘建成 ，惠 宁 ，沈东军 ，高丽娟 ，苏秀娣 ，陆 虹
(1. 中国原子能科学研究院 核物理所，北京 102413 ；2. 中国电子科技集团公司 第 47 研究所，辽宁 沈阳 110000)
摘 要 ：为了给星用半导体器件不同区域的单粒子翻转(SEU)机理研究提供一种高效、可靠手
段，基于北京 HI- 13 串列加速器，从重离子微束辐照技术和存储器单粒子效应检测技术这 2 方面，
对微电子器件 SEU 二维成像测试技术进行了研究，建立了基于虚拟技术的测试系统。利用该成像
技术，对国产 2 kbit 静态随机存储器(SRAM) 的 SEU 敏感区域进行了实验研究，结果与理论结果及
以往手动测试实验结果一致。
关键词 ：单粒子翻转成像；重离子微束；随机静态存储器
中图分类号 ：TN911.72 ；TP274+ .2 文献标识码：A
Technique of Single Event Upset mapping
1 1 1 1 1
SHI Shu-ting ，GUO Gang ，WANG Ding ，LIU Jian-cheng ，HUI Ning ，
SHEN Dong-jun 1 1 2 2
，GAO Li-juan ，SU Xiu-di ，LU Hong
(1.Department of Nuclear Physics，China Institute of Atomic Energy，Beijing 102413，China；
2.The 47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation，Shenyang Liaoning 110000，China)
Abstract：To study the Single Event Upset(SEU) mechanism in different regions of Integrated Circuits
(IC)，a SEU mapping system was established on heavy ion micro-beam facility in Beijing HI- 13 Tandem
Accelerator. It produces micron-resolution maps when single-event upsets occur during ion irradiation of
integrated circuits. From these upset maps，the identity and size of a circuit ’s upset-prone components can
be directly determined. Utilizin
文档评论（0）