传输线解析有机涂层金属体系阻抗谱及其应用物理化学专业论文.docxVIP

浙江大学博十学位论文传输线解析有机涂层，金属体系 浙江大学博十学位论文 传输线解析有机涂层，金属体系 阻抗谱及其应用 摘要 目前，随着计算机技术的飞速发展，电化学阻抗谱已经成为许多领域广泛应用的一 秘测试手段。尤其是对于有机涂层t金属，体系，阻抗测量结果具有无法取代的独特优点， 可以得到关于涂层渗水、离子扩散、水泡的形成、粘结力丧失、涂层和涂层下金属腐蚀 过程等大量潜在的信息，帮助理解和解释有机涂层／金属界面的腐蚀机理。然而，尽管 在满足线性、稳定性、冈果性条件下测量的阻抗数据是客观的，解谱的困难掩盖了其优 点，即对阻抗测量结果的解释方法(阻抗特征及其拟合参数的归属)并非显而易见、也 不唯一确定，受各种因素的影响而仁者见仁，智者见智，有时所得参数与涂层体系的性 能也出现矛盾，导致结果多为定性，不能成为一神独立的分柝技术。 本文就目前国内外解析有机涂层／金属体系阻抗谱中的几个关键问题，如等效电路模 型的普适性与客观性、参数随时间变化的规律性、腐蚀产物和难以控制的涂层厚度对平 行样品阻抗谱重现性的影响、分析结果的精度与可定量的程度、参数物理意义的明确性、 与界面粘结力之间的关系等，提出使用CR传输线系列模型是个有价值的综合解决方案。 文中论述了选用CR电路解析有机涂层／金属体系阻抗谱的原因、文献背景，以及对 不同特征阻抗谱的通用性。尤其重要的是根据CR电路和QR电路参数之间数学关系，