x射线测厚仪的硬件设计与实现控制理论与控制工程专业论文.docxVIP

摘要x射线测厚仪的硬件设计与实现 摘要 x射线测厚仪的硬件设计与实现 摘要 薄膜厚度的均匀性是双向拉伸塑料薄膜的一个极其重要的质量指 标。在自动化程度较高的薄膜生产线中，薄膜厚度都是采用精度较高的 非接触式测厚仪和反馈控制系统进行自动检测和控制的。本文介绍了一 种新型在线检测设备的硬件设计原理，研制的X射线测厚仪应用在双向 拉伸塑料薄膜生产线上，取得了理想的测量和控制效果。 首先，论文对当今工业生产中的在线与非在线测厚技术进行了简要 的介绍，深入分析了各种在线测厚仪的优缺点。本课题选择了X射线作 为测厚仪的射线源。文章分析了X射线的发射、接收原理，使用的C、K 值薄膜厚度测量算法，经过实践检验，能够满足工厂实际生产的需要。 其次，测厚仪探头部分的设计是实现整个系统的关键环节，将X射 线探测器、制冷系统、供电系统相结合，构成了系统扫描探头。本文对 该部分的设计原理和实现方法做了详细的说明，并对扫描机架的选择和 使用做了介绍。 详细阐述了测厚仪电控系统的设计原理与实现过程。本论文提出了 以PLC为电控核心的控制系统，整个系统具有较高的运行可靠性和测量 精度。对X射线测厚仪的数据采集、数据处理方法以及测厚算法的实现 流程都做了说明。通过介绍测厚仪的使用方法，说明了系统标定、校零、 机械校正等过程的重要意义。 北京化工人学硕上学位论文最后简要介绍了上位机运行界面，对生产状态实时显示、历史报