x射线衍射rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离sio2含量的研究分析化学专业论文.docxVIP

X射线衍射一R X射线衍射一R i etve I d全谱图拟合法测定粉尘中 游离S i 02含量的研究 摘要 职业性接触含硅粉尘与肺癌，以及矽肺与肺癌的关系问题，很早从临 床、病理、流行病学等方面进行了许多研究。近来关于尘肺，特别是矽肺 合并肺癌危险性有增高的趋势，已引起职业医学界的十分关注。现已确定 粉尘中游离的二氧化硅是引起矽肺的主要病因，是评价粉尘危害性质的主 要指标。我国接触二氧化硅粉尘作业人员较多，矽肺病患者数字较大，因 此，加强对粉尘中游离二氧化硅含量的检测是一件非常重要和紧迫的工作。 近来，广西职业病防治研究所对河池某冶炼厂的不同车间不同工序的工人 进行调查，发现矽肺病患者数字较大。因此快速准确的检测这些冶炼厂的 游离二氧化硅的含量对于找出病因，控制生产性粉尘的浓度是很有必要的。 本文应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了模拟粉尘样品 及实际粉尘样品游离二氧化硅的含量，并同时得到粉尘样品中其它晶相和 非晶相物质的含量。实验采用日本理学D／MAX 2500V型X射线衍射仪， CuKa辐射带石墨单色器，管压44kV管流150mA，步进扫描收集衍射数据， 用Jade5．0软件定性分析，DBWS9807a软件定量分析。研究结果如下： (1)通过对一系列Si02含量不同的四元、五元、六元模拟粉尘样品的 分析，考察了峰形参数和结构参数对实验结果