光电信号的变化形式与检测方法 (2).ppt

第九章 光电信号的变化形式与检测方法 本章内容： 光电变化的基本形式与类型 几何变换的光电检测方法 物理变换的光电检测方法 光电编码器＆条形码 重点内容： 光电变化的基本形式与类型 几何变换的光电检测方法 难点内容： 物理变换的光电检测方法 第一节 光电变化的基本形式与类型 一、基本形式 1、被测对象为辐射源的形式 光电探测器件直接探测物体本身的辐通量以确定目标物的存在。如：火警、侦察、武器制导等。此外，由于物体的辐射与波长＆温度有关，故还可用于探测温度＆光谱分析。 设物体全辐射通量密度为 （1） 在近距离测量时，前置放大器输出的电压信号为 （2） 将（1）代入（2）得 表面前置放大器输出的电压值是温度的函数。 （二）光透过被测对象的形式 当光透过均匀介质时，其光通量的变化为： 则光电变换器的输出电压为： （三）光由被测对象反射的形式 通常分为两种：镜面反射：用来判断光信号的有无。如光准直，转速等；漫反射：检测物体表面的外观质量。 （四）光由被测对象遮挡的形式 可用于检测物体的位移量＆尺寸。主要用在测微计，尺寸检测仪以及光电计数，光开关等领域。 （五）被测对象经光信息量化的形式 若长度信息量L量化为条纹信息量，则长度 L=qn q为量化单位，采用莫尔条纹变换时，其为光栅节距，达到微米 量级；若采用激光干涉时，其 等于激光波长的二分之一或四分之一；n为条纹个数。 （六）光传输信息的形式 光通讯技术即属此类。 二、光电变换的类型 （一）模拟量信息变换 被测的非电信息量变为光信息量时，通常为光通量形式，光电变换后，输出光电流与光通量成正比。这类变换器要求光源、光学系统＆光电器件性能稳定。否则，由于光源辐射通量的波动＆光电器件特性的改变将明显引起输出光电流的变化，给光信号检测带来误差。 （二）模数变换 被测信息量通过光学变换量化为数字信息（如光脉冲、条纹个数等），经变换器输出的电信号通常为“0”＆“1”两个状态组成的一系列脉冲数字信号。它只取决于光通量的有无而与光通量的大小无关，故这类变换器对光源＆光电器件的要求不高。 第二节 几何变换的光电检测方法 一、光电测长技术 物体外形尺寸的测量其基本原理是首先通过瞄准确定被测物体的轮廓边缘，然后计算边缘标志间的长度。 （一）瞄准测长方式 瞄准＆测长分开。首先利用各种光电瞄准装置对准被测物体边缘，然后利用各种长度基准计量出两次瞄准间的长度间隔。 （二）实时测长方式 瞄准＆测长同时进行。它在几何量的自适应控制＆在线测量中应用广泛。 另种分类方法： 1、光度测量法：根据被测物体的遮光、反光等造成的光量变换，采用单个光电元件测量物体尺寸。精度不超过0.5%~5%。 2、成像测量法：利用物镜对物体的成像关系，以CCD阵列或摄像管等成像器件在观察图像时确定轮廓的边缘＆边缘间的距离。精度可达0.1%~2%。 3、扫描测量法：利用扫描光束周期性地照明被测物体，在物体边缘上形成强对比度随时间周期性变化的光分布，通过测量通光与遮光的时间差进行测长。精度可达0.01%~0.1%。 一般系统由三部分组成：将激光束平行投射到被测物体上的激光扫描装置；放置在被测物体后方接收激光束的检测装置＆处理接收信号的电子装置。 激光束经过反射镜折回到透镜上，并由位于透镜焦平面上的多面反射镜旋转扫描，平行照射到被测物体上。然后经光接收器所得到的光电信号在电子处理器中进行边缘检测＆脉宽测量。最后经运算处理后，由数字显示给出测量结果。其物体直径可由下式求得： 二、轴向测距（沿检测系统光轴方向的长度检测方法） （一）像点轴上偏移检测的光焦点法（以聚焦光斑光密度分布的集中程度判断物体轴向位移的方法） 点光源通过成像镜头在被测物体表面成点像，该像点作为新的发光物点，折回成像物镜的光路中，在像面上成清楚像。像面的光照度分布呈衍射斑的形式。当被测物表面相对理想物面前后移动时，像点相对理想像面同方向地前后移动，像点的偏移引起原像面上的离焦，使像面照度分布扩散。如在初始像面设置针孔光栏，并使其直径小于光斑直径，这时，前后移动光栏，通过针孔的光通量将会改变。 （二）像点轴外偏移检测的像偏移法（光切法） 半导体激光器通过高频调制到被测面上，反射面上被散射的光点由聚光镜接收，最后透过窄带滤光片由PSD（半导体位置检测器）接收。产生的信号电流进入信号处理装置。在这里，信号电流经前置放大器，一路反馈到电源驱动器，控制发光强度保持恒定。另一路经过模拟开关将PSD的两个输出端分别接入同一电路中。模拟开关的输出信号进入到取样放大器＆A/D转换器中，它们以光源调制频率将PSD信号变换成数字信号，最后，利用电脑计算出被测量的距离。 第三节 物理变换的光电检测方法 一、光电干涉测量技术 各种干涉现象都是以光波波长为基