大型紧缩场电气性能检测Ξ-硬件和射频工程师.PDFVIP

第 19 卷第 2 期 　　微 　波 　学 　报 Vol. 19 No. 2 　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　 2003 年 6 月 JOURNAL OF MICROWAVES 　Jun. 2003 ( ) 文章编号 2003 大型紧缩场电气性能检测 全绍辉 　何国瑜 　徐永斌 　董宇亮 (北京航空航天大学电子工程系 ,北京 100083) 摘 　要 : 　介绍了大型紧缩场电气性能检测的原理、系统和方法 ,解决了其中的关键技术问题 ,对紧缩场系统的 后期应用 ,如天线测试、RCS 测试等 ,有重要参考和借鉴意义。 关键词 : 　紧缩场 ,微波幅相测试系统 ,微波接收机 ,天线测量 ,RCS 测量 Electrical Performance Testing for Large Compact Range QUAN Shaohui , HE Guoyu , XU Yongbin , DONG Yuliang ( ) Dept . of Electronic Engineering , Beijing University of Aeronautics and Astronautics , Beijing 100083 Abstract : 　The principle , system and method for electrical performance testing of large Compact Range (CR) are presented. Key technical problems of it are solved. It provides references for subsequent applications of CR , such as antenna measurement , RCS measurement , etc. Key words : 　Compact range ( CR) , Microwave amplitudephase measurement system , Microwave receiver , Antenna mea surement , RCS measurement 1 　引言 紧缩场可以在近距离上提供一个性能优良的准平面波测试区 ,是天线辐射特性测试、目标 RCS 测试的 重要设备。紧缩场系统可以架设在微波暗室中 ,具有全天候、操作方便、保密性好等特点。由于测试在微波 暗室中进行 ,背景电平低 ,因而可以完成对低副瓣、超低副瓣天线和低 RCS 目标的精确测试。 反射面式紧缩场研制一般可分为电气设计、面板和背架加工制造、机械定位和安装调整、电气测试调整、 验收测试等几个环节。在电气测试调整过程中 ,通过对静区场进行测试、分析 ,寻找并排除影响紧缩场性能 的干扰源 ,使紧缩场达到较理想工作状态。电气测试调整阶段结束后 ,紧缩场才能够进入最后验收阶段。 在电气测试调整和验收阶段 ,都要对紧缩场静区场幅相分布进行测试。与一般天线测试和 RCS 测试不 同 ,紧缩场静区场检测要求测试系统具有更高的机械定位精度和幅相测试精度 ,要求系统灵敏度更高 ,动态 范围更大 ,稳定性和重复性更好。为了尽量避免外界因素对场测试产生干扰 ,紧缩场电气检测最好封闭式进 行。 针对紧缩场电气性能检测的特定要求 ,设计了具有隐身结构的高精度