一种低功耗BIST测试方法.PDFVIP

一种低功耗BIST 测试方法 1,2 1 2 汪 滢 王宏 李金凤 1 (中科院沈阳自动化研究所 沈阳 110016)2（沈阳化工学院 信息工程学院 沈阳 110142） 摘要：通过分析RTL 的代码和RTL 的故障仿真可得到一组屏蔽向量，将这些屏蔽向量和随机向量应 用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗。本文主要论述了利用RTL 的功能信 息进行低功耗BIST 测试的方法，并通过其在标准电路中的应用阐述实现过程。 关键字：寄存器传输级，内建自测试，故障模型，随机抵抗性故障 中图分类号：TN 4 文献标识：A 1．引言 系统功能、规模和实时性要求的提高，意味着以SOC 技术为发展方向的IC 体积和功耗的增加， 而测试电路的加入更加剧了这一趋势，研究表明，测试模式下消耗的功耗是正常模式的两倍。高功耗 产生的高热量极易导致硅失效，使系统的可靠性降低。因此，降低测试模式下的功耗变得尤为重要。 SOC 系统通常采用BIST 测试技术对电路结构进行测试，电路中需加入测试模式生成器、控制电 路和分析器等附加电路。由于测试模式生成器产生的随机测试向量，无法快速有效地观测所有故障， 尤其对测试模式有特殊要求的模块，观测其随机抵抗性故障（难以观测的故障）的可能性很低，需通 过增加测试向量的数量来满足对系统故障覆盖率的要求，系统测试功耗会随之增加。 基于RTL 的低功耗BIST 测试[1] [2]就是在保证故障覆盖率的前提下，尽量减少测试向量，即利用 RTL 的功能信息，用较少观测随机抵抗性故障的测试向量，降低测试过程中的能量消耗。 2 ．测试原理 2.1 RTL故障模型及与门级故障的相关性 衡量RTL 故障模型质量的标准有可控性、可观性和分支覆盖率。分支覆盖率用来衡量功能控制和 数据通道被激活的程度。常见RTL 故障模型[2][4]有：线性固定型故障（LSA ）、逻辑/算术表达式、常 量/变量转换、空语句、条件语句（IF/ELSE 与CASE ）、循环语句（FOR ）,其中LSA 与逻辑级的LSA 一道多用于进行一般故障测试，往往与其他方法结合使用；逻辑/算术表达式虽可提高故障覆盖率，但 在带来大量的故障列表同时，对故障覆盖率的提高并无帮助；常量/变量是一种基于软件测试的故障模 型，同样有大量的故障列表，却无法保证对故障覆盖率的提高；NULL 语句是在描述中不执行语句， 由于故障诊断的3 个必要条件限制[1]，空语句故障一般在条件故障中体现出来；IF/ELSE 故障模型是 使IF 条件常真或常假；CASE 故障模型包括控制变量固定在每一个计数值，一个CASE 语句失效，所 有的CASE 语句失效三种类型。RTL 故障模型的实用性受故障的插入机制及故障列表的限制。RTL 故 障是单个的和永久的。在每个故障仿真的过程中，只有一个故障被插入，并且这个故障的影响作用于 整个故障仿真过程。 门级故障模型主要有固定型故障（stuck at faults ）、桥接故障、暂态故障、时滞故障等。时滞故障 一般由于元件位置或参数选择不当产生，常在功能仿真中解决；暂态故障包括瞬时故障与间歇故障， 常在芯片应用中发生，不是结构测试的重点；桥接故障因电路拓扑结构的改变引起，常常反映为系统 固定故障；固定故障指系统某点固定为0 或1，是结构测试的重点。 RTL 级的设计描述体现了门级的微结构[3] [4]，其输入故障与门级的输入故障是等价的，即是一对 一的关系。而RTL 级模块内部变量的扇出故障表示一个可能的门级实现扇出故障的子集。随着输入信 号的增加，实现条件操作的模块变得更加难以观测，因此条件语句是观测随机抵抗性故障的关键。 基金项目：中国科学院创新研究基金[KGCX-SW-15] 2.2 测试原理[7] 结构测试中对随机抵抗性故障[8] （random-pattern-resistant fault ）的观测是造成系统测试矢量庞大 的主要原因，由于随机抵抗性故障与功能测试中很少被访问的功能模块（dark corners ）存在联系，而 功能测试中条件故障（If, Case