SPECT的相关性能说明.ppt

SPECT的性能 均匀性 均匀性指有效视野内各部位对均匀分布的放射源相应的差异，即各部位计数率的离散度，是SPECT最基本和最重要的性能参数，直接关系到是否能如实反映所测体内放射性分布的情况。 分为： 固有分辨率 系统分辨率 均匀性 固有均匀性即不带准直器时探头采集的平面均匀性 窗宽为20% ，矩阵为256 X 256 或128 X 128;预计数为30M count，点源 系统均匀性即加上准直器时的平面均匀性，测量时应使用面源或泛源，药量2~5mci 设置:窗宽为20% ，短阵为256 X 256 或128 X 128 放大，预置计数30Mcount。 方法:探头面水平朝上，将面(泛源)源紧贴于准直器上并覆盖探头，且超出边缘 5cm 。 数据采集:静态影像1帧。注意采集时的计数率应小于20kcps 。 断层均匀性即对均匀 的体模进行断层采集和重建后图像的均匀性 均匀性评价有定性法和定量法 定性法是用肉眼观察图像中放射性的分布是否均匀，用感兴趣区技术测量单位时间内的放射性技术，评价均匀性在±10％ 的范围。 定量法用于对均匀性更为精确的评价 ，常用的方法有积分均匀性（integral uniformity）和微分均匀性(differential uniformity)两种。 均匀性 积分均匀性（integral uniformity） 反映的是照相机视野内最大计数与最小计数之差的百分比。 U1=[(Cmax-Cmin)/(Cmax+Cmin)] ×100％ 微分均匀性(differential uniformity) 指均匀性随距离的变化。NEMA规定应考察5-6个像素单元内视野在X、Y两个方向最大计数和最小计数的相对百分比。 UD=[(CH-CL)/(CH+CL)] ×100％ 均匀性 显像系统的不均匀性可以产生伪影，影响显像质量，在一般显像中，非均匀性误差应控制在3%~5%。平面显像误差可直接影响断层影像的重建。如:平面显像1%误差，通过图像重建可放大到20%，产生严重的热区和冷区。 当能峰漂移时会影响系统的均匀性，从而影响图像质量 空间分辨率 空间分辨力表示γ 照相机分辨两个点源或线源最小距离的能力。γ 照相机的系统分辨力由γ 照相机固有分辨力和准直器分辨力共同决定。即 Rs= Rs 为系统分辨力; RI为固有分辨力; Rc 为准直器分辨力。 固有分辨力的测定 (1)模型:固有分辨力模型或相应的四象限铅栅模型。 (2) 源: 99mTc 点源， 0.5 mCi。 (3)γ 照相机设置:窗宽20% ;矩阵为256 x 256 或128 x 128;预置计数15MCount (4) 方法:移去准直器，探头面水平朝上。①点源:放置在探头视野中心，距离探头平面约5 倍UFOV 远 ;②使用:模型紧贴于探头面上，模型的铅栅方向与X(或Y) 轴平行，拍摄一张胶片后，将模型旋转90° ，再采集一帧，拍摄胶片。注意采集时计数率20kcps左右; ③使用四象限铅栅模型:与固有分辨力模型使用相同，只是模型需旋转90°二次，每个象限各采集一帧; (5) 处理与结果:依据γ照相机的铅栅模型图像判定空间分辨力的好坏。胶片上显示的最小铅条宽度即为照相机的最佳空间分辨力。定量测量系统分辨力可用点扩展函数(DSF) 或线扩展函数(LSF) 进行计算，计算LSF 的半高宽度FMHM ，也可以用推荐的经验公式FMHM= 1.75B 汁算， B 为γ照相机分辨出的模型最小铅栅宽度，全面评价影像设备的分辨能力还应研究调制转换函数(MTF) 。 系统分辨力 测定测量系统分辨力测量与固有分辨力测定方法相同。源使用泛源模 型，应分别对不同类型的准直器进行测量。 注意采集时计数率20kcps左右 。 半年质控 平面源灵敏度 平面源灵敏度是指某一采集平面对平行于该面放置的已知活度平面源的探测能力。 单位为计数/(min?μci) 1、模型:测量的模型可以是一圆盘。容器深大于5mm，直径10mm 2、源:①固有灵敏度:源强度约0.1mCi;②系统灵敏度:源强度1mCi。 3、γ 相机设置:窗宽20 为%，短阵256 x 256 或128 x 128;预置计数100kcount或预置时间100s。 平面源灵敏度 4、 方法:将探头面水平朝上，铺上一层薄的塑料布(防止核素污染探头表面) ，模型紧贴于探头正中心。模型内注入水溶液，高度约3 mm，注入放射性核素，搅拌均匀(无均匀性要求)。测量注入前后剩余的核素的强度，精确到5 %，测量3 次取均值。计算注入源的强度。 静态采集，采集总计数100kcount (或时间100s) ，记录采集时间(或计数个数)。采集完毕，移去平面摞模型，测量本底计数3min。将平面源计数进行衰减校正及扣除本底后计算平面