第 14 卷 第 4 期 强 激 光 与 粒 子 束 . 14, . 4
V o l N o
2002 年 7 月 . , 2002
H IGH POW ER LA SER AND PA R T ICL E BEAM S Ju l
文章编号: (2002)
平焦场光栅光谱仪①
吴 军, 杨家敏, 丁永坤, 丁耀南, 王跃梅, 张文海, 郑志坚, 杨向东
( 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900)
摘 要: 介绍了用于X 光能谱测量研究的平焦场凹面光栅光谱仪的原理、结构及象差校正的设计方法。
利用 2 400 的变栅距光栅设计和建立了一台平焦场光栅光谱仪, 其测谱范围为 1. 5~ 10 。通过在星光
L mm nm
装置上利用该谱仪测量 C 10H 16O 6 等离子体的发射谱线, 对谱仪进行了实验考核, 表明该谱仪分辨率达到
0 02nm 。并成功应用于辐射加热等离子体的吸收谱测量研究中。
关键词: 凹面光栅; 光谱仪; 象差
+
中图分类号: 817 . 1 文献标识码:
TL A
对等离子体产生的X 光能谱的研究, 可以得到许多关于等离子体的重要信息。实验室内所获得的X 光属
[ 1 ]
软X 光波段, 使用光栅谱仪测量。由于透射式光栅谱仪 的谱分辨率较差, 只能达到 0. 1~ 0. 2nm , 不能适应谱
[ 2 ]
分辨率要求很高的测量, 而通常的反射式光栅谱仪 均采用恒定栅距的凹面光栅作分光成像元件, 就必须满足
罗兰圆的结构, 记录面为一柱面, 难以实现与其它记录设备, 如条纹相机, 分幅相机的配接。
已经研制的反射式平焦场光栅谱仪, 采用一块变栅距凹面光栅作分光元件, X 光掠入射到光栅上, 可以形
[ 7 ]
成几乎是平面的记录焦面。目前, 国内实验室使用的大多是 1 200 的平焦场光栅谱仪 , 其摄谱范围为 5
L mm
~ 30 , 对于波长更短的 能区的谱线则无法聚焦。而我们使用的是 2 400 的变栅距凹面光栅, 其
nm
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