统计制程管制(StatisticalProcessControl;SPC)-国立高雄海洋科技大学.ppt

品質控制(統計製程管制) 余德成 國立高雄海洋科技大學運籌管理系 2007.5.13 大綱 前言 基本的控制模式 TQC SPC 抽樣方法 品質管制方法 More 前言 TQM 失敗的原因 管理有兩種 連續改善 基本的控制模式 TQM 失敗的原因 連續改善 Concepts 如何連續改善? 5-Why 改善工具 Concept-1 Concept-2 如何連續改善? 5-Why ????? 改善工具 魚骨圖 基本的控制模式 TQC 戴明獎審查檢點表 SPC 統計製程管制(Statistical Process Control; SPC) 統計思維(Statistical Thinking ) 品質特性(Quality Characteristics) 資料型態(Types Of Data) 變異型態(Types of Variations) 統計方法(Statistical Methods) 抽樣方法(Sampling Methods) 統計思維 Key Concepts主要觀念 Process and systems thinking 製程與系統的思維 Variation 變異 Analysis increases knowledge 分析可以增加知識 Taking action 可以採取行動 Improvement 可以用來改善 Role of Data 資料的角色 Quantify variation 量化的變異(變動) Measure effects 量測的效應 統計方法 統計圖表 統計分配 管制圖 檢定 迴歸 讓資料說話….Know-why 統計訓練 訓練課程 認證體系 薪資調整 抽樣方法 雙次抽樣計劃 多重(連續)抽樣計劃 如何選擇抽樣之方法 More…. The End Lower specification Mean Upper specification Four sigma Two sigma μ , Nominal value 製程能力 Lower specification Mean Upper specification Four sigma Two sigma μ , Nominal value 製程能力 Capable Very capable Not capable LSL USL Spec Process variation 製程能力 Process Capability Cpk Assumes that the process is: under control normally distributed 假設製程為穩定且為常態分配 Cpk =min(Cpu , Cpl) Cpu=(USL-μ)/3 Cpl =(μ-LSL)/3 Precision精密度 Capability準確度 製程能力指數 Cpk = negative number Cpk = zero Cpk = between 0 and 1 Cpk = 1 Cpk 1 Cpk 量測之意義 Lower specification limit Upper specification limit (a) Acceptance sampling (b) Statistical process control (c) cpk 1 確認並降低製程變異 TYPE I ERROR = P(reject good lot) a or producer’s risk, too nervous 5% is common 第一種錯誤=將好批判成壞批的機率,緊張忙亂的錯誤 TYPE II ERROR = P(accept bad lot) b or consumer’s risk, absent- minded 10% is typical value 第二種錯誤=將壞批判成好批的機率,心不在焉的錯誤 生產者與消費者冒險率 Acceptance quality level (AQL) 允收水準 Acceptable fraction defective in a lot 允許一批中不良的比例 Lot tolerance percent defective (LTPD) 拒收水準,批容許不良率 Maximum fraction defective accepted in a lot 允許一批中最大不良的比例 品質的定義 Operating Characteristic Curve Shows probability of lot acceptance 顯示批允收的機率 Based on是基於: sampling pla