豌豆根瘤侵染细胞发育中造粉体的研究.PDF

第 29 卷 第 3 期 作　物　学　报 V o l. 29, N o. 3 2003 年 5 月　432—435 页 A CTA A GRONOM ICA S IN ICA pp. 432—435　M ay, 2003 豌豆根瘤侵染细胞发育中造粉体的研究 韩善华　张　红 ( 四川师范大学细胞生物学研究室, 四川成都　610068) 摘　要　透射电镜研究表明, 在豌豆根瘤侵染细胞发育过程中, 造粉体的形态结构处在变化之中。在发育早期, 造粉体较 多, 分布在细胞壁附近。它的基质很少, 多含有呈长梭形的、电子密度非常低的淀粉粒, 并有一些电子密度较高的条带结 构。随着细胞的发育, 造粉体逐渐移至胞间隙周围, 不断变小, 切面近似椭圆形或圆形。进一步发育时, 造粉体中的淀粉粒 越来越小, 几乎都近似椭圆形或圆形。与此相反, 造粉体基质明显增多, 常含一些嗜锇颗粒, 有时还有一种特殊的泡状结 构。在衰老细胞中, 造粉体很少, 但不含淀粉粒的质体经常可见, 在造粉体附近常有较多的线粒体和内质网。还讨论了豌 豆根瘤侵染细胞中造粉体的变化规律及其与细胞发育和固氮的关系。 关键词　豌豆根瘤; 侵染细胞; 造粉体; 淀粉粒; 动态变化 中图分类号: S521　　　文献标识码: A Study on the Am ylopla sts dur ing the D evelopm en t in the Infected Cells of Pea Root Nodules 　 HAN Shan H ua ZHAN G Hong ( , , , 610068, ) Cell B iology L aboratory S ichuan N orm al U niversity Cheng d u S ichuan Ch ina Abstract　O bservation w ith transm ission electron m icro scopy show ed that the am ylop lasts in infected cells ( . ) . of pea P isum sativum cv Zhangjiachuan roo t nodules w ere in developm ental changes In early develop m ental stage the am ylop lasts locating near cell w alls w ere mo re , their m atrix w as very few and there only . , w as strom a thylako id T he am ylop last usually po ssessed a larger very low electron density starch grain w h ich m ainly w as long shuttle and there w ere som e h ighe