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扫描电子显微镜扫描隧道显微镜
扫描电子显微镜与扫描隧道显微镜及其应用 扫描电子显微镜 扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是继透射电镜(TEM)之后发展起来的一种电子显微镜 扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或透射电子显微镜不同,它是以电子束作为照明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上,产生各种与试样性质有关的信息,然后加以收集和处理从而获得微观形貌放大像。 在最近20多年的时间内,扫描电子显微镜发展迅速,又综合了X射线分光谱仪、电子探针以及其它许多技术而发展成为分析型的扫描电子显微镜,仪器结构不断改进,分析精度不断提高,应用功能不断扩大,越来越成为众多研究领域不可缺少的工具,目前已广泛应用于冶金矿产、生物医学、材料科学、物理和化学等领域。 SEM SEM SEM SEM的主要特点 ⑴仪器分辨本领较高。二次电子像分辨本领可达1.0nm(场发射),3.0nm(钨灯丝); ⑵仪器放大倍数变化范围大(从几倍到几十万倍),且连续可调; ⑶图像景深大,富有立体感。可直接观察起伏较大的粗糙表面(如金属和陶瓷的断口等); ⑷试样制备简单。只要将块状或粉末的、导电的或不导电的试样不加处理或稍加处理,就可直接放到SEM中进行观察。一般来说,比透射电子显微镜(TEM)的制样简单,且可使图像更近于试样的真实状态; 特点 ⑷可做综合分析。 SEM装上波长色散X射线谱仪(WDX)(简称波谱仪)或能量色散X射线谱仪(EDX)(简称能谱仪)后,在观察扫描形貌图像的同时,可对试样微区进行元素分析。 装上半导体样品座附件,可以直接观察晶体管或集成电路的p-n结及器件失效部位的情况。 装上不同类型的试样台和检测器可以直接观察处于不同环境(加热、冷却、拉伸等)中的试样显微结构形态的动态变化过程(动态观察)。 电子枪 扫描电镜光学系统及成像示意图 扫描电子显微镜 三大组成 1、真空系统 真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。 真空柱是一个密封的柱形容器。 2、电子束系统 电子束系统由电子枪和电磁透镜两部分成,主要用于产生一束能量分布极窄的、电子能量确定的电子束用以扫描成象。 3、成像系统 扫描电子显微镜由电子光学系统(镜筒)、偏转系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、电源系统和真空系统等部分组成 信号收集及显示系统 检测样品在入射电子作用下产生的物理信号,然后经视频放大作为显像系统的调制信号。普遍使用的是电子检测器,它由闪烁体,光导管和光电倍增器所组成。 利用扫描电镜观察样品形貌的操作步骤 SEM的应用 应用举例 1.断口分析 材料断口的微观形貌往往与其化学成分、显微组织、制造工艺及服役条件存在密切联系,所以断口形貌的确定对分析断裂原因常常具有决定性作用。 1.材料表面形态(组织)观察 2.断口形貌观察 断口形貌观察 3.磨损表面形貌观察 4.纳米结构材料形态观察 在生命科学领域可用于胚胎及组织发生学方面的研究和观察; 在临床上可用于多种疾病亚细胞结构病变的观察和诊断,特别是肾小球疾病及肌病的诊断,以及一些疑难肿瘤的组织来源和细胞属性判定,如一些去分化、低分化或多向分化肿瘤的诊断和鉴别诊断; 最早关于细胞凋亡的形态学描述也是源于电镜的观察。 5.生物样品的形貌观察 原子序数衬度像 扫描隧道显微镜(STM ) 扫描隧道显微镜亦称为“扫描穿隧式显微镜”、“隧道扫描显微镜”,是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁(G.Binning)及海因里希·罗雷尔(H.Rohrer)在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明,两位发明者因此与恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。 扫描隧道显微镜简介 扫描隧道显微镜 scanning tunneling microscope 缩写为STM。它作为一种扫描探针显微术工具,扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子,它具有比它的同类院子里显微镜更加高的分辨率。此外,扫描隧道显微镜在低温下(4K)可以利用探针尖端精确操纵原子,因此它在纳米技术既是重要的测量工具又是加工工具。 STM使人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物化性质,在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广泛的应用前景,被国际科学界公认为20世纪80年代世界十大科技成就之一。 世界上第1台扫描隧道显微镜 世界上第1台扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜(STM ) 扫描隧道显微镜简介基本结构 1 隧道针尖 2 三维扫描控制器 3 减震系统 4 电子学控制系统 5 在线扫描控制系统 6 离线数据分析软件 扫
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