第四章 偏光专显微镜.ppt

材料岩相分析第四章 偏光显微镜下 晶体的光学性质 § 4-1.偏光显微镜的构造和使用 当两晶体薄片的同名轴平行时（ 即Ng’//Ng’’，Np’//Np’’，见图4-24d ），光透过两薄片后其总光程差 R＝R1＋R2 ，所反映出的干涉色比原来两薄片各自的干涉色都要高。 在两晶体薄片中，如果一个薄片的光率体椭圆半径名称及光程差为已知，则可根据补色法则，测定另一薄片的光率体椭圆半径名称及光程差。如补色器就是利用此原理。 石膏试板具有一定的厚度，在正交偏光镜间产生一级紫红干涉色，其光程差为550nm，能使晶体的干涉色整整升高或降低一个级序。这种试板比较适用于干涉色较低的晶体（二级黄以下）。 § 4-4 锥光镜下晶体的光学性质 § 4-5 折射率的测定－－油浸法 § 4-6 透明矿物薄片的系统鉴定 干涉色色圈以两个光轴出露点为中心，向两边干涉色级序逐渐升高，在靠近光轴处，干涉色色圈呈卵形曲线，向外合并成∞形，更外则成凹形椭圆。干涉色色圈的多少，取决于晶体的双折射率及薄片厚度，与两者成正比。对于双折射率较低的晶体，干涉图中无干涉色色圈，在黑十字所分割的四个象限内仅出现一级干涉色（图4-46）。 转动物台，黑十字从中心分裂，形成两个弯曲的黑臂，当光轴面方向与上、下偏光镜振动方向成45°角时，两个黑臂顶点间的距离最远（图4-45b），二弯曲黑臂顶点为两个光轴的出露点，它们之间的距离与光轴角2V成正比，弯曲黑臂顶点凸向Bxa出露点。 继续转动物台，弯曲黑臂顶点逐渐向视域中心移动，至90°时，又合成黑十字，但粗细黑臂的位置已更换（图4-45c）。转动物台时，干涉色色圈随光轴出露点移动，其形状不变化。 ② 成因： 根据拜－弗定律（光沿任意方向射入二轴晶晶体，垂直此入射光的光率体切面的椭圆半径必定是入射光与两个光轴所构成的二平面夹角的两个平分面与切片的交线；也就是说，在二轴晶切片上任一点的光率体轴，必定是此点与二光轴出露点连线夹角的分角线）（图4- 47）： 二轴晶垂直Bxa切面上光率体椭圆半径的分布如图4-48所示，从图中可以看出，光轴面与上、下偏光镜振动方向之一平行时，在光轴面及Nm方向上，其光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动方向平行或近于平行，故应消光而成黑十字。 在Nm方向上，光率体椭圆半径的分布与AA、PP方向平行的范围较宽，因此黑臂粗；在光轴面方向上光率体体椭圆半径与AA、PP方向平行的范围窄，光轴出露点最窄，故黑臂细（图4-49 a）。 旋转物台，中心部分光率体椭圆半径方向首先与AA、PP斜交而变亮，黑十字从中心分裂，当光轴面与AA、PP成45°夹角时，只有弯曲范围的光率体椭圆半径与AA、PP平行，故此范围成弯曲黑臂（图4-49 b）。 在其它部分的光率体椭圆半径均与AA、PP斜交，因此出现干涉色。在光轴出露点处的双折射率等于零，光程差为零，以两光轴出露点为中心，向四周光程差逐渐增大，但在光轴两边，光程差的增加速度是不相等的（图2-66），由光轴向Bxo方向倾斜的入射光线，其双折射率与光线通过薄片的距离都是逐渐增加，其光程差增加较快。 由光轴向Bxa方向倾斜的入射光线，虽然双折射率逐渐增加，但光线通过薄片的距离逐渐减少，其光程差增加较慢，而且到Bxa出露点达最大值。所以在光轴出露点周围，光程差相同的干涉色色圈，在向Bxa的方向上，离光轴出露点较远，在向Bxo方向上，离光轴出露点较近。 ③ 光性正负的测定： 测定二轴晶的光性正负，实际上就是测定Bxa是Ng还是Np。 由图4-50和图4-51可知，在光轴面与上、下偏光镜振动方向成45°夹角的干涉图中，与光轴面迹线一致的光率体椭圆半径的名称，在二光轴出露点内外恰恰相反，但无论光性正负，黑臂总是凸向锐角等分线区，凹向钝角等分线区，同时无论锐角区还是钝角区，垂直光轴面迹线的方向总是Nm。 加入适当的试板，根据锐角区或钝角区干涉色级序的变化便能确定光性正负。例如，加入石膏试板，弯曲黑臂变为红臂。如果锐角区干涉色由灰变蓝（图4-53 a），干涉色升高，说明Nm方向与试板的慢光平行，垂直Nm振动的应为快光Np，则锐角等分线就是Ng，因此是二轴晶正光性。 如果锐角区干涉色由灰变黄（图4-53 b），干涉色降低，说明Nm方向为快光，与之垂直振动的应为慢光Ng，则锐角等分线为Np，因此是负光性。 钝角区与锐角区干涉色的升降情况正相反，分析钝角区干涉色的变化情况亦能得出与上述相同的结论。 图4-5