半导体物理考试大纲
第一部分: 半导体中的电子状态
一.理解下列基本概念
能级,能级简并化,共有化运动,能带(导带,价带,满带,空带),禁带,有效质量,纵向(横向)有效质量,k空间等能面,本征半导体,本征激发,空穴(重空穴,轻空穴),载流子。
二.分析掌握下列基本问题
1.能带的特点,能带的杂化,能带的描述。
2.导体,半导体,绝缘体能带结构的区别。
3.本征半导体的导电原理。
4.Si,Ge,GaAs能带结构的异同点。
第二部分: 半导体中杂质和缺陷能级
一.理解下列基本概念
杂质,替位式杂质,间隙式杂质,杂质能级
施主杂质,施主能级,正电中心,施主电离,电离能,n型半导体
受主杂质,受主能级,负电中心,受主电离,P型半导体
浅能级杂质,深能级杂质,杂质补偿,中性杂质
二.分析掌握下列基本问题
1.N型半导体和p型半导体的导电原理
2.某些杂质在半导体中产生若干个能级的原理
3.杂质的补偿原理及其利弊
4.位错在Si(Ge)中起施主或受主作用的原理,及其对Eg的影响
第三部分:半导体中载流子的统计分布
一.理解下列基本概念
热平衡状态,热平衡载流子,费米能级
非简化性系统,非简并半导体,简并性系统,简并半导体
有效状态密度,状态密度有效质量,多数载流子,少数载流子
二.分析掌握下列基本问题
1.费米分布函数的性质
2.玻氏分布代替费米分布的条件
3.导带电子浓度和价带空穴浓度表示式分析推导的思想方法
4.杂质半导体EF随杂质浓度变化关系,随温度的变化关系
5.载流子浓度随温度的变化关系
6.区分半导体载流子出现非简并,弱简并,简并的标准
5.各种热平衡状态下半导体电中性条件
三.熟识公式并运用
1.费米分布函数表示式
2.玻氏分布函数表示式
3.导带电子浓度,价带空穴浓度表示式
4.本征载流子浓度表示式,本征费米能级表示式
5.载流子浓度乘积表示式,及其与本征载流子浓度的关系
6.饱和电离温度区载流子浓度及EF的表示式(n型和p型半导体)
7.过渡温度区载流子浓度表示式(n-s 和 p-s)
8.简并半导体载流子浓度表示式
9.已电离杂质浓度表示式
第四部分:半导体的导电性
一.理解下列基本概念
电流密度,漂移运动,平均漂移速度,迁移率
自由时间,平均自由时间,电导有效质量
载流子散射,散射几率,格波,声子,弹性散射,非弹性散射
热载流子
二.分析掌握下列基本问题
1.迁移率概念的引进,迁移率简单理论分析的思想方法
2.电离杂质散射机理
3.迁移率与杂质和温度的关系
4.电阻率与杂质和温度的关系
5.波尔兹曼方程建立的思想方法
6.统计理论分析与简单理论分析得到半导体电导率结果比较
7.强电场作用下半导体发生欧姆定律偏离的原因,热载流子产生
三.熟识公式并运用
1.欧姆定律的微分形式
2.电导率表示式(混合型,n型,p型,本征型半导体)
3.迁移率表示式
4.电离杂质散射和晶格散射几率与温度关系
5.电阻率表示式(混合型,n型,p型,本征型半导体)
6.波尔兹曼方程表示式
7.电导率统计理论的结果表示式
第五部分:非平衡载流子
一.理解下列基本概念
载流子的产生率,复合率,净复合率
电子—空穴对的复合几率,半导体非平衡态;非平衡载流子
非平衡载流子的复合率,复合几率,积累率
准费米能级,非平衡载流子寿命,有效寿命(表观寿命)
直接复合,简介复合,表面复合,复合截面,复合中心,复合中心能级
陷阱效应,陷阱,陷阱中心
扩散系数,扩散长度,扩散速度,牵引长度
二.分析掌握下列基本问题
1.半导体热平衡态和非平衡态特点的比较
2.非平衡载流子的注入与检验的方法的原理
3.非平子随时间衰减规律,及其推证思想方法,寿命τ的物理意义
4.准费米能级的特点
5.复合过程的性质
6.直接复合过程分析
7.间接复合的特点,间接复合过程的分析
8.金在Si中如何起复合中心作用
9.表面复合存在的依据及解释
10.杂质在半导体中的作用,杂质能级在怎样情况下才有明显的陷阱效应作用,怎样分析最有效的陷阱
11.一维稳定扩散的特点,一维稳定扩散的分析思想方法
12.爱恩斯坦关系推证的思想方法
13.非平载流子既漂移又扩散时的非平子浓度分析
14.连续性方程的意义以及具体情况下的求解
三.熟识公式并运用
1.非平衡载流子随时间衰减规律表示式
2.非平衡载流子复合率与非平衡载流子浓度关系表示式
3.非平衡导体电子浓度(价带空穴浓度)表示式
4.直接复合机构决定的非平衡载流子寿命表示式(大,中,小信号)
5.间接复合理论分析得到的非平衡载流子寿命表示式
6.连续性方程表示式
第六部分:金属和半导体接触
一.理解下列基本概念
半导体表面,空间电荷区,表面势,表面势垒,表面势垒高度
功函数,接触电势垒,接触势垒,高阻区(阻挡层),高电导区(反阻挡层)
耗尽层,少子
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