基于ATE的RFID测试方法浅析.pdfVIP

l 基于ATE的RFD测试方法浅析 王春宇，管金凤，陈燕宁，张海峰 (北京南瑞智芯微电子科技有限公司，北京 100192) 摘要：随着物联网的高速发展，作为其核心技术的RFID得到了越来越广泛地的应用，RFID芯片的测试需求也是越来越多。本 该方案易实现、成本低，是目前RFID芯片量产测试的通用测试解决方案。 关键词：RFID，ATE，测试解决方案，低成本 ofRFIDTestMethodbasedonATE Analysis WangChunyu，GuanJinfeng，ChenYanning，ZhangHaifeng Nari Microelectronics 100192) (BeijingSmartchip CompanyLimited，Beijing more as the oftheInternetof hasbeenusedmoreand widely Abstract：Withrapiddevelopment things，RFID toreducethetestcost thecore ofRFID isalsomoreandmore．Inorder technology，testrequirementchip and howto ofRFID fromthecharacteristicsofRFID test analyze chip，starting chip difficulty，emphasize testsolutionof andRFfunctionofRFID withATE．Theschemeis to capacitor chip easy implement， testing is isthe testsolutionoftheRFID andcost low．Asfar，it general chipproductiontesting． cost solution：low Keywords：RFID：ATE：test 0 引言 将指日可待。 物联网已被确定为中国战略性新兴产业之一，RFID技1 RFl D系统组成 术作为物联网发展最关键的技术，其应用市场必将随着物 一般而言，如图1所示，最基本的RFID系统通常是 联网的发展而扩大。RFID即射频识别技术，全称是Radio FrequencyIdentification，又称电子标签、无线射频识别， (Transponder)以及应用软件系统这三部分组成。 是一种通信技术，可通过无线电讯号识别特定目标并读写相关 电子标签包含天线和标签芯片两