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第六章宏观残余应力的测定 6.1 物体内应力的产生与分类 内应力是指产生应力的各种因素不存在时，由于形变、体积变化不均匀而存留在构件内部并自身保持平衡的应力。通常分为三类： 第一类内应力； 第二类内应力； 第三类内应力。 第一类内应力又称宏观应力，在工程上常把宏观应力称为残余应力。 残余应力测定方法 * * 使谱线宽化或衍射强度降低 使谱线位移 衍射效应 不同种类的原子移动、扩散和原子重新排列使晶格产生畸变 位错线附近、析出相周围、晶界附近、复合材料界面等若干个原子尺度范围内 超微观内应力 第三类内应力 晶格的弹性弯曲、扭转或均匀压缩、拉伸 晶粒、亚晶粒内部 微观内应力 第二类内应力 热处理、表面处理、机加工等 在物体内部相当大（众多晶粒）范围内 宏观内应力 第一类内应力 产生原因 平衡范围 名称 类型 测定宏观应力的方法可分为两类： 一类是应力松弛法，即用钻孔、开槽或剥层等方法使应力松弛，用电阻应变片测量变形以计算残余应力。这是一种破坏性的测试； 另一类是无损法，即利用应力敏感性的方法，如超声、磁性、中子衍射、X射线衍射等。 X射线应力测定的特点和不足之处 用X射线测定残余应力有以下特点： ①是非破坏性试验方法。 ②测定的是弹性应变。 ③可以测定1～2mm以内的很小范围内的应变。 ④测定的是试样表层大约10μm深度内的二维应力。 ⑤可以测量材料中的三类应力。 X射线法的不足之处： ①测试设备费用昂贵； ②受穿透深度所限，只能无破坏地测表面应力，若测深层应力，也需破坏试样； ③当被测工件不能给出明锐的衍射线时，测量精确度不高。 ④试样晶粒尺寸太大或太小时，测量精度不高； ⑤大型零件不能测试； ⑥ 运动状态中的瞬时应力测试也有困难。 6.2 X射线宏观应力测定的基本原理 通过测定弹性应变量推算应力（σ=Eε）。 通过晶面间距的变化来表征应变（σ=Eε=E△d/d0） 晶面间距的变化与衍射角2θ的变化有关。 根据 2dsinθ=λ → △d/d=-cotθ·△θ 因此，只要知道试样表面上某个衍射方向上某个晶面的衍射线位移量△θ，即可计算出晶面间距的变化量△d/d，进一步通过胡克定律计算出该方向上的应力数值。 在拉应力?y的作用下，正好与拉伸方向垂直的试样中某晶粒的（hkl）晶面，其晶面间距将由d0扩张为d’n，则其应变为： 根据弹性力学原理，其应力： 单轴应力测定原理 只要求出△d/d，即可求出σy。而 通过X射线衍射, 求出该晶面对应衍射线位移△θ即可。 直接测定?y是很困难的，但对于均质材料： ?为泊松比。对于多晶体试样，总可以找到若干个晶粒的（hkl）晶面与试样表面平行，这些晶面的晶面间距变化是可测的： 因此 平面应力测定原理 平面应力(双轴应力): 指在二维方向上存在的应力。 （由于X射线只照射到表面10~30μm左右的深 度，因此X射线只能测出二维平面应力。） 对于理想的多晶体，当受到一定的宏观应力的作用时，不同晶粒的同族晶面间距随晶面方位及应力大小发生有规律的变化，如图所示。 由弹性力学原理有： 这是宏观应力测定的基础公式。 5.3 宏观应力测定方法 宏观残余应力的测定方法 1、同倾法 2、侧倾法 同倾法 同倾法的衍射几何特点是测量方向平面与扫描平面重合。 侧倾法 侧倾法的衍射几何特点是测量方向平面与扫描平面垂直。 5.4 X射线宏观应力测定中的一些问题 衍射峰的确定 衍射线位移是测定宏观应力的依据，因而衍射峰位置（2θ）的准确测定直接决定应力测量的精度，常用定峰方法是半高宽法和抛物线法。 半高宽法 如图所示，适合峰形较明锐的衍射谱。 抛物线法 对于峰形漫散的衍射谱，将峰顶部位假定为抛物线用测量的强度数据拟合，求最大强度Ip对应的衍射角2θp 衍射峰位置。 求最大强度，对上式求导为零，得 分为：三点抛物线法和抛物线拟合法 三点抛物线法 应力常数K的确定 由于晶体材料的各向异性，在确定应力常数K时，所用的E不能采用宏观机械方法测量的多晶平均弹性模量进行计算，不同（h k l）面的弹性性质不同，因此需测定与选用晶面相应的弹性性质。