基于NSGA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化探究.pdfVIP

第25卷第3期 电子测量与仪器学报 场t25No．3 oFELECTRoNlC lN趼RUMENT ·226· JoURNAL MEASUREMENT丸ND 20t1年3月 DOI：10．3724／SP．J．1187．2011．00226 基于NSGA一Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究木 谈恩民王鹏 (桂林电子科技大学电子工程与自动化学院，桂林541004) 摘要：在系统芯片SoC测试中，测试时间与测试功耗是两个互相影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目 标同时优化问题。在无约束条件下，对SoC测试时间与测试功耗建立联合优化模型，并采用多目标进化算法中的改进型非劣分 类遗传算法(Non．dominatedsortinggeneticalgorithm 1做应 II，NSGA一Ⅱ)埘模型进行求解。通过应用ITC’02标准电路中的p9379 用验证，结果表明该方法能够给出模型的均衡解，证明了模型的实用性和有效性。 关键词：NSGA．II算法：SoC测试；测试时间：测试功耗 中图分类号：TN407 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：520．1040 ofSoCtest basedonNSGA-II Optimizationmultipleobjeets algorithm TanEnmin WangPeng ofElectronic (GuilinUniversity 541004，China) Technology,Guilin Abstract：Inthetestof timeandtest wereintherestrictconditiontoeachother． System。on。Chip(SoC)，testpower callachievethe The simultaneous constructedthe evolutionaryalgorithm optimization．Thepaper multi—objective combined modelfortesttimeandtest underno NSGA-IItodealwith optimization power constraining，applied the combined model，and ITC’02Benchmarkcircuit to the resultsshow optimizationadopted p93791verifyalgorithm．The thattheNSGA-II Can balance thetestmodelis andeffective． algorithmgenerate solutions，and practical test；testtime；test Keywords：NSGA．II；SoCpower 1 引 言 出优化结果。 在基于IP核的SoC