基于线阵 CCD 白光干涉技术位移测量系统的研究-微电子学与固体电子学专业论文.docxVIP

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独创性声明 本人声明所呈交的学位论文是我个人在导师指导下进行的研究工作 及取得的研究成果。尽我所知,除文中已经标明引用的内容外,本论文不 包含任何其他个人或集体已经发表或撰写过的研究成果。对本文的研究做 出贡献的个人和集体,均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声 明的法律结果由本人承担。 学位论文作者签名: 日期: 年 月 日 学位论文版权使用授权书 本学位论文作者完全了解学校有关保留、使用学位论文的规定,即: 学校有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版,允许 论文被查阅和借阅。本人授权华中科技大学可以将本学位论文的全部或部 分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描等复制手段 保存和汇编本学位论文。 保 密□,在 年解密后适用本授权书。 本论文属于  不保密□。 (请在以上方框内打“√”) 学位论文作者签名: 指导教师签名: 日期: 年 月 日 日期: 年 月 日 华中 科技 大学 华 中 科 技 大 学 硕 士 学 位 论 文 I I 摘 要 白光干涉技术(White-light interferometry technology)是在 20 世纪 70 年代发展起 来的一门新技术,由于它是以白光的干涉宽度作为度量单位的,所以可以检测极其微 小的位移形变,被广泛用于光纤产品、材料研究、生物医学工程等领域,具有高测量 精度和高灵敏度。CCD(Charge-coupled Device)是电耦合器件,它可以把光信号转换 成电信号进行输出,同时还具备集成度高,功耗小,噪声低、测量精度高等优点,在 图像传感方面有着广泛的应用。目前,利用白光干涉技术进行测量的系统只在国外少 数几个国家中实现了商品化,国内还处于研究阶段。 本文研究并设计了一种基于线阵 CCD 白光干涉技术的测量系统。通过对白光干涉 条纹信号进行采集、存储、传输和算法分析,从而实现了中央零级条纹的精确定位。 白光经过干涉之后会形成干涉信号,符合高斯分布,用高速线阵 CCD 对其进行采集, 转换成电信号,再通过面向 CCD 的专有 AD 对此信号进行滤波降噪和 A/D 转换,形成 对应的数字信号后把数据保存在 FPGA 中的高速异步 FIFO 中,以便于数据的存储与传 输,最后通过高速以太网的方式把采集到的干涉信号数据上传到上位机中。此硬件系 统是在 Xilinx FPGA 的基础上实现的。 本文还对 CCD 像素定位进行了研究,以提高整个系统的精度。CCD 在采集数据 的过程中会引入诸多噪声,而导致中央零级条纹不能精确定位。本文介绍并比较了线 阵 CCD 常见的像素定位算法,并在此基础上,提出了一种改进的灰度质心法,并对测 量结果进行数据统计与分析,得到了更高精度的测量结果。 经过验证,本系统能够正确对白光干涉条纹中央零级条纹进行定位,同时还有很 高的精度与处理速度,具有很高的应用价值。 关键词:白光干涉,FPGA,线阵 CCD,AD9945,LAN8700,像素定位 II II Abstract White-light interferometry is a new technology developed from the 1970s. Taking the width of white-light interference as its unit of measurement, this technology is of high accuracy and high sensitivity. Thus, it can be applied to measure extremely small deformation, and has been widely used in optical-fiber products, materials research, biomedical engineering, etc. Through CCD (Charge-coupled Device), the optical signals can be transformed into electronic signals. Due to its high integration, low power consumption as well as its high accuracy, CCD also has an extensive application in image sensoring. However, up till now, measuring systems which apply white-light interferometry technology are commercialized only in a

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