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用测量电导率的方法进行混料分选时应注意: 1、材料厚度的变化-若材料厚度小于或等于涡流的渗透深度,电导率的测量值就会受到厚度变化的影响。一般要求进行混料分选时,材料厚度至少应为涡流渗透深度的3倍。(涡流检测中,将涡流密度衰减为其表面密度的1/e(36.8%)时对应的深度定义为渗透深度h;由于被检工件表面以下3h处的涡流密度仅约为其表面密度的5%,因此常将3h作为实际涡流探伤能够达到的极限深度)。 2、环境温度的影响-温度每变化1oC,电导率大约变化0.05×106 S/m。 3、材料表面状态的影响-试件表面状态,如表面曲率、粗糙度、涂层厚度和有无缺陷等因素都会对电导率的测定结果产生影响,实际操作的时候要注意排除这些干扰。 比较而言,磁性材料的磁特性受材料材质变化影响的程度要比电导率大得多。剩磁、矫顽磁力等物理量都与材质的状态有关,受材料的组织成分、热处理状态和力学性能变化等的影响。利用这种相关关系,就可以根据测得的材料的磁滞回线参量来推断被检材料的热处理状态,进行混料的分选。 但是由于这种方法的物理基础是电磁感应而不是感生涡流,因而严格来说,应称其为分选的“电磁方法”。某些钢种分选仪就是这种电磁感应式仪器。 back 涡流测厚 当管材或板材厚度发生变化时,检测线圈阻抗会发生变化,据此可以测量某些试件的壁厚、金属材料上非金属涂层或铁磁材料上非铁磁材料涂层的厚度、以及管材或棒材直径、椭圆度等。 覆层厚度测量 金属薄板或箔厚度的测量 覆层厚度测量 覆层是指覆盖在金属材料表面上,满足防护、装饰等功能性要求的涂层、镀层或渗层。常见的基体与覆层材料的功能组合有如下几种: i 绝缘材料/非磁性金属材料(基体为非磁性金属材料,覆层为绝缘材料):例如铝合金零件表面的阳极化覆膜、涂层等。 ii 顺(抗)磁性材料/顺磁性材料(基体为顺磁性材料,覆层为顺(抗)磁性材料):如顺磁性材料表面的铜、铬、锌镀层及奥氏体不锈钢表面的渗氮层。 iii 绝缘或顺磁性材料/铁磁性材料(基体为铁磁性材料,覆层为绝缘或顺磁性材料):例如钢表面的涂层、镀铬层等。 常用涡流方法测定i(绝缘材料/非磁性金属材料)、ii(顺(抗)磁性材料/顺磁性材料)两种材料组合的覆膜厚度。Iii(绝缘或顺磁性材料/铁磁性材料)种材料组合的覆膜厚度的测定,更常用电磁感应方法,因为此时材料的磁效应远远大于其涡流效应。用涡流法测定覆膜的厚度利用的是探头式线圈的提离效应。 当将探头式线圈靠近被检工件时,线圈阻抗的改变量不仅与材料的电导率、检测频率等因素有关,而且还受线圈至工件表面距离变化的影响。放在非磁性材料表面上的某探头式线圈的阻抗图如图所示。 图中弦向虚线代表当检测频率和电导率取定值时,探头至被检材料表面距离(l)变化对线圈阻抗产生的影响,即所谓提离效应。有图可知:若其他检测参数不变,则探头式线圈的阻抗(感应电压)将随材料表面覆层厚度的不同而变化,进而通过线圈阻抗的变化即可很快测得材料表面覆膜的厚度。这一厚度一般在几微米至几百微米的范围内。 在涡流测厚时,提离效应(覆膜厚度效应)是需要检测的变量。而电导率变化和工件太薄都会影响测厚的精度。为了抑制这两种干扰,以适应不同材料(不同电导率)及其厚度的变化,涡流测厚的时候需要使用较高的工作频率(例如25MHz)。 涡流测厚仪可用于测量非磁性材料表面各种绝缘膜的厚度,如铝合金的阳极化层、高温合金的珐琅层及各种漆层的厚度。对于两种材料组合的导电覆膜,只有当基体与覆膜之间的电导率相差较大时,才有可能利用提离效应测定其厚度。 back 金属薄板或箔厚度的测量 用涡流法测量金属薄板厚度的设备简单,检测方便。板材厚度越薄,测量精度越高。 用涡流法测量金属薄板的厚度时,检测线圈即可按照反射工作方式布置在被检薄板的同一侧,也可按照透射工作方式布置在其两侧。但无论哪一种工作方式都是根据在测量线圈上测得的感应电压值来推算金属薄板的厚度。 back 涡流检测新技术的应用 涡流检测的应用是多方面。例如用涡流检测方法还可以测定金属轴的径向振动或微小的轴向位移,以及管(棒)材的直径和椭圆度等。近年来,涡流检测不断向更广阔的领域扩展,出现了一些非常规的涡流检测新技术,扩大了涡流检测应用范围。 back 2019 ppt资料 * 欢迎批评指导!! 快乐工作,快乐生活! 感谢您的聆听! ! 外穿过式线圈检测法 使试件从线圈内穿过来检测试件表面缺陷情况或物性变化。这种方法主要用于检测管材、棒材和线材等试件。对于管材外壁缺陷灵敏度较高,内壁缺陷灵敏度较低。 back 内通过式线圈检测法 使检测线圈从试件
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