可高效测量整个工件表面形状的新型三维测量机.PDF

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2019-04-13 发布于天津
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1 2 特点独特的白光干涉峰值检测算法DEAP DEAP(Algorithm for Detection of Envelope and Absolute Phase）是東京精密独创的包络线/ 绝对相位检测算法与PST( 相位干涉法）相比测量范围更大，与VSI 垂直扫描干涉法相比分辨率更高，测量范围更大。 DEAP 可有效降低测量噪声的影响，显著提高分辨率，传统测量方法无法正确检测的斜面形状，数据可利用DEAP 轻松获得。传统的设备 ※ 以测量粗糙度标准片（E-MC-S24B）为例可靠的测量结果和可以信赖的溯源体系测量段差标准片和粗糙度标准片的结果与使用接触式粗糙度测量机一致。作为专业的粗糙度测量机的制造商，可提供可靠的测量结果。以国家标准溯源体系为基础，保证测量结果的可靠性。段差标准片测量结果 [ 校正值：1.99μm ± 2%] 溯源体系图校正证明书 µm