【TechnicalDocument】音频电路中上电爆音的产生原因-模拟IC-3PEAK.PDF

Technical Document T音频电路中上电爆音的产生原因与解决方案 音频电路中上电爆音的产生原因与解决方案 作者：Colin Ling 音频应用中常因 DAC 输出音频信号幅度较低，通常会使 MUTE 住1864mS 对于有些系统的应用来说没问题，但也有 用运算放大器进行信号放大。但面对系统中只有单电源 些系统希望不能延时太长，上电之后很快系统就能正常 的情况下因直流偏执引起的爆音问题是音频电子工程师 工作。那么可以对系统中的电容放电时间常数进行调整， 的一大困扰。下面我们使用3PEAK 的TP1562A 一起探讨 可以将 R4,R5 等比例减小，以减小 C2 放电时间常数 RC 爆音产生的原因和解决方案。 来达到目的。 系统上电的爆音很多时候是因为输入耦合电容没放完电 另外，改变RC 的时间常数，有可能会影响音频最重要的 时就打开了音频通道，以致电容的放电直接被运放放大 指标之一：幅频特性。如果在不影响幅频特性前提下，RC 输出就产生了爆音。 的时间常数已经改到了最优，还是无法满足系统上就能 快速工作的要求，那么我们可以考虑通过改进电路来解 决问题。 图1. D E 上面图1. 是音频应用中的常规电路，通过主控GPIO 控 T 制MOS 管可以有效控制系统上电的爆音。那么GPIO 口什 A 么时候才释放MOS 管呢，我们来看看电容放电的时间： 图2. Vt=Vu*exp( -T/RC) R 图2. 是改进之后的电路，增加了个N 管进行辅助放电。 O 即：T=RC(lnVu-lnVt) 8050 导通，C2 的时间常数： P Vt:T 时刻的电容电压，Vu：电容放电前的初始值,电容充 R C2*(R5+3.8K) 满电E=Vu。 T= （2.2u*33.8K）*(ln1.6V-ln500uV)=600mS O 在如图一，因为运放输入是高阻，所以电容的放电时间常 增加个N 管，改变了电容C2 的放电路径，改善了放电时 数是： C N 间常数，当然在不影响频响的前提下，等比例减小R4,R5， C2*(R5+R4)=2.2u*105K I 还可以获得更优的时间常数，加快电容放电时间。