一种逆傅里叶激光测量系统的研究.PDF

激光与光电子学进展 52, 021202(2015) Laser Optoelectronics Progress ©2015《中国激光》杂志社 一种逆傅里叶激光测量系统的研究 王亚民 张婧雯 西安科技大学理学院,陕西西安 710054 摘要 针对测量粒径的传统傅里叶测量系统（FS）的缺点，提出了一种改进的逆傅里叶激光测量系统（RFS）。通过实 验测量，结果表明通过增加散射体与透镜的距离可以增加粒径测量的下限，扩大粒径测量的范围。另外，还对不同粒 径的测量结果和理论计算结果进行了对比。结果表明，该方法特别适合于在小颗粒的测量。 关键词 测量；逆傅里叶光学；激光测量；粒径测量；Mie散射 中图分类号 O436.2 文献标识码 A doi:10.3788/LOP52.021202 StudyofanReverseFourierLaserMeasurementSystem WangYamin ZhangJingwen CollegeofSciences,Xi′anUniversityofScienceandTechnology,Xi′an,Shaanxi 710054,China Abstract Formeasurementsonparticlesize,animprovedreverseFourierlasermeasurementsystem(RFS) whichbasedondisadvantagetraditionalFouriersystem(FS)ispresented.Intheexperimentalparts,theresults show that the increase in lower limit of particle size measurement by increasing the distance of scattering volume and lens can expand the range of particle size measurement. In addition, the different particle size measurement results and theoretical calculation results are compared. The experimental evidence and simulationresultsshowthat,thismethodisespeciallysuitableformeasuringsmallparticles. Keywords measurement;reverseFourieroptics;lasermeasurement;particlesizemeasurement;Miescattering OCIScodes 290.5850;290.5820;070.4560 1 引 言 粒度分析是必要的各种各样的工业过程，包括研磨，结晶，乳化和聚合。粒度和粒度分布（PSD）是有价 值的信息，尤其在特定的大小的颗粒的生产效率和产品质量控制过程中更为重要。仪器已开发和建造用于 此目的。随着激光技术，光电和计算机科学的发展，基于光散射激光粒子分析仪自20世纪70年代末发现的 [1] 广泛使用。这种仪器的特点是测量快速、准确，可测量的尺寸范围外，重现性好，使用方便 。 前向光散射是一种最广泛使用的技术进行样品的颗粒粒径接近或大于光的波长。该技术已被广泛称 为激光衍射。然而，长期的激光衍射不再反映当前状态的艺术。一种基于Mie散射理论的方法，其测量的散 [2] 射角范围很宽，因此测量粒径大小的