光刻机双工件台系统的FMECA分析-机械电子工程专业论文.docxVIP

光刻机双工件台系统的FMECA分析-机械电子工程专业论文.docx

  1. 1、本文档共82页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
万方数据 万方数据 FMECA FOR DUAL-STAGE SYSTEM OF LITHOGRAPHY MACHINE A Thesis Submitted to University of Electronic Science and Technology of China Major: Mechatronics Engineering Author: Jidong Zeng Advisor: Dan Lin School : School of Mechtronics Engineering 独创性声明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工 作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地 方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含 为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。 与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明 确的说明并表示谢意。 作者签名: 日期: 年 月 日 论文使用授权 本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁 盘,允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文 的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或 扫描等复制手段保存、汇编学位论文。 (保密的学位论文在解密后应遵守此规定) 作者签名: 导师签名: 日期: 年 月 日 摘要 摘 要 光刻机是半导体元器件制造的常用装备,工件台系统、对准系统和曝光系统 是光刻机系统的三大核心组成。由于国外对我国的光刻机在技术方面实行封锁, 而且早期国内对光刻机这一高投入、高风险装备的重要性认识不足,导致我国的 光刻机产业发展落后。现阶段,提高光刻机技术对发展我国的半导体行业至关重 要。在光刻机的研制过程中,可靠性技术发挥着重要的作用。 工件台系统是光刻机的关键组成系统,主要功能是实现被加工工件的运动, 工件台的性能影响着硅片的加工质量。本文以某型光刻机双工件台系统为研究对 象,包括硅片台和掩模台两个子系统。两个子系统都采用粗动台和微动台相结合 的结构,粗动台实现大行程运动,微动台实现六自由度的微动。双工件台系统是 一个结构复杂、运动精度要求超高的运动系统,对可靠性要求也较高,可靠性分 析工作非常复杂。在双工件台系统的设计阶段对系统进行可靠性分析时,主要面 临着以下几个方面的问题: (1)缺少工件台系统的失效数据。 (2)系统可靠性程度较高,运行过程中发生失效的次数少。 (3)系统结构复杂,对其进行可靠性试验比较困难。 (4)目前对双工件台系统进行的可靠性分析工作很少。 针对上述问题,本文的主要内容如下: (1)对光刻机双工件台系统中硅片台和掩模台子系统进行故障树建模,通过 定性分析和定量分析找出两个子系统的薄弱环节。 (2)引入 GO 法对控制子系统进行建模和分析,评估控制子系统的可靠性。 (3)针对双工件台系统可靠性数据较少的情况,对硅片台和掩模台进行 FMECA 分析。采用专家打分的方式对两个子系统的故障模式进行评定,完成对两 个子系统的可靠性评估。 (4)针对专家打分过程中的数据冲突问题,采用基于 D-S 证据理论的信息融 合的方法对各个专家的权重进行再分配,对 FMECA 中的 RPN 值进行再计算。并 将这两种 RPN 计算方法与传统技术方法进行比较。 关键词:双工件台,故障树,GO 法,FMECA,证据融合 I ABSTRACT ABSTRACT Lithography machine is a kind of equipment for semiconductor manufacturing. Its core sub-systems include alignment system, exposure system and the wafer stage system. The technology blockade of foreign companies and impercipient importance of developing lithography technology in China has great impedes the development of Chinese lithography technology. It is very urgent to develop the lithography industry due to the importance of semiconductor. As an im

您可能关注的文档

文档评论(0)

1234554321 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档