論文题目专利之品质与价值评量方法—以TFT-LCD产业为例.PDFVIP

摘要 論文題目：專利之品質與價值評量方法—以 TFT-LCD 產業為例 學校：國立政治大學科技管理研究所 研究生：潘治良 指導教授：劉江彬博士 近年來，提昇專利品質的觀念已在企業間蔓延開來，而擁有一套能 夠有效衡量的分析評量工具，為企業評估專利價值的先決條件。目前坊 間評估專利價值較普遍的方式為 CHI Research所發展，以「專利引證資 訊」及「專利數量」作為公式的計算基礎。然而專利之品質要素並非現 行專利分析公式及其指標所能完全涵蓋及內化，與商業價值亦無直接對 應關係。為了改善上述之問題，本研究試圖從實務的觀點出發，找出並 分析品質優良之專利說明書，其共通之特色為何，以及如何評估專利實 際替企業創造的利益。本研究擬就下列問題進行討論： 問題一：目前常用的以「專利引證資訊」及「專利說明書可量化數據」 為基礎之專利價值評量模式是否可靠？ 問題二：專利的品質與價值如何定義與區分開來評估？ 問題三：影響專利說明書品質之指標因子及流程為何？ 問題四：評估專利價值之流程應為何？ 問題五：由產業結構切入之專利評量模型可行性？ 本研究之架構乃由現有理論基礎配合產業實務，首先將專利之評估 方式分成「品質」及「價值」兩階段。接著以TFT-LCD 產業之著名訴 訟專利及廣視角技術作為研究對象，討論擁有優良品質之專利其特色為 何。再連結產業結構、價值鏈、供應鏈、產品結構、技術結構、營收結 構等市場面議題以實證專利之價值，並分析探討本研究之專利評量模型 可行性。最後，針對提出之問題歸納出研究結論，給予學界及產業界一 個專利評量之方法參考。 III IV Abstract Title of Thesis: The Evaluation Method of Patent Quality and Value-Center on the Industry of TFT-LCD Name of Institute: National Chengchi University Name of Student: Pan Chih-Liang Adviser: Professor Paul Chang Bin Liu In recent years, the concept of improving patent quality is spread over companies and cooperations. Analysis system, as a tool for effectively measuring patent quality, is the prerequisite of patent evaluation. The most general way of patent evaluation is developed by CHI Research, which bases on the information of “patent citation” and “patent quantity” for formulas. However, the essential factor of the patent quality can not be suitably presented by the foregoing indices and formulas. Furthermore, there is no direct relationship between the commercial value and such evaluation process. In order to improve the evaluation process, this research focuses on analyzing the common characteristics of high quality patents and how to value the actual commercial