国立中兴大学贵重仪器中心-国立中兴大学材料科学与工程学系.DOCVIP

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2019-07-04 发布于天津
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国立中兴大学贵重仪器中心-国立中兴大学材料科学与工程学系.DOC

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國立中興大學貴重儀器中心多功能聚焦離子束電子顯微鏡說明會主旨：國立中興大學貴重儀器中心於2012年，在國科會補助下建構完成多功能聚焦離子束電子顯微鏡，為推廣本儀器的功能，讓使用者對本儀器有詳細認識，針對設備所能提供之功能與試片製備等問題進行討論，特舉辦本儀器服務說明會。二、儀器簡要說明：本儀器廠牌為日本JEOL JIB-4601F多功能聚焦離子束電子顯微鏡，電子槍解析度1.2 nm (30kV)，離子槍解析度為5nm(30kV)，加速電壓1 to 30 kV(1 pA to 60 nA)，可對材料於ion beam 切削後的組織做精細之觀察及TEM試片的製備，並加裝最新的牛津儀器(OXFORD)微區元素能量分析儀(EDS, X-MAX80 AZtec operation system)、自動探針取樣系統(OmniProbe)與OmniGIS，可提供完整TEM樣品製備功能三、議程：日期：2014年4月22日(週二) 08:50 ~ 15:40 地點：國立中興大學資訊科學大樓致平廳(地下室一樓) 時間講題主講人單位/職稱 08:50~09:10 現場簽到 09:10~09:30 貴賓致詞薛富盛院長葉鎮宇主任中興大學工學院院長中興大學貴儀中心主任 09:30~10:40 JIB-4601F多功能聚焦離子束電子顯微鏡鈴木俊明講師 Mr. TOSHIAKI SUZUKI JEOL日本電子株式會社 General manager of SM application department 10:40~11:00 休息 Tea Time 11:00~12:10 Manipulator and gas injection system applications in FIB Dr. Goi Kip OXFORD INSTRUMENTS 12:10~13:10 午餐 13:10~14:20 Practical EDS and EBSD analysis in materials science Dr. Goi Kip OXFORD INSTRUMENTS 14:20~14:30 休息 14:30~15:40 Advanced AFM Systems for Materials Characterization Justin Wong 翁銘龍先生 OXFORD INSTRUMENTS ※ 為了便於準備資料，請事先報名(免報名費)，於4月15日(二)中午前將報名表傳真至04（傳真後，煩請來電確認，謝謝）或E-mail : HYPERLINK mailto:k04171@dragon.nchu.edu.tw k04171@dragon.nchu.edu.tw (E-mail主旨?: FIB說明會報名) 聯絡人：洪淑媚電話：04191或185 「多功能聚焦離子束電子顯微鏡說明會」報名表姓名單位職稱指導教授手機電話 E-mail 未來可能使用之實驗類型為：□製備TEM試片□SEM觀察試片之cross-section□鍍白金電極□其他: 未來可能分析試片之材料類型為：□金屬□半導體□陶瓷□高分子□生物□其他