资料科学分析解析技术(电子显微学衍衬成像理论)文档资料.pptVIP

* 等厚条纹形成原理的示意图 因为同一条纹上晶体的厚度是相同的，所以这个条纹叫做等厚条纹，由t=n/s可知，消光条纹的数目实际上反映了薄晶体的厚度。因此，在进行晶体学分析时，可通过消光条纹的数目来估算薄晶体的厚度。 * 等厚条纹明场像 等厚条纹暗场像 * （2）等倾消光条纹 当衍衬成像时，如果试样的厚度基本不变，而晶体的取向由于变形等原因而有微小的变化时，相当于偏离矢量s有微小的变化，这时衍射波对小晶柱下表面的强度贡献公式可写为： 这时电子衍射衬度的表达式是偏离矢量的函数，随着偏离矢量的改变，衬度改变，这是等倾条纹产生的原因。由上面的表达式可以知道，等倾条纹具有如下的特点： * 试样下表面处的强度将随偏离参量s变化而呈单缝衍射函数的形式变化，衍射强度在s=0处有强度的主极大，主极大的半宽高为1/t ，在s=n/2t 中，当n为奇数时，分别对应次极大、三极大等等，当n为偶数时，强度值将为零； * * * * 4. 缺陷晶体运动学衍衬理论 晶体中存在缺陷时，会使缺陷附近的某个区域内的点阵产生畸变，这种畸变的大小和方向可用位移矢量 R表示 理想晶体晶柱中位移矢量为r，而非理想晶体中的位移矢量应该是r′。显然，rˊ=r + R。 位移矢量 R * 设A处的薄片厚度为dz，则包含的散射原子层数为dz/d，因此薄片dz对P处衍射振幅的贡献为： 厚度为t的试样，在位移矢量为R的畸变区域，其