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ttl集成逻辑门电路实验报告 　　实验一集成门电路逻辑功能测试　　一、实验目的　　1.验证常用集成门电路的逻辑功能;2.熟悉各种门电路的逻辑符号;　　3.熟悉TTL集成电路的特点，使用规则和使用方法。　　二、实验设备及器件　　1.数字电路实验箱　　2.万用表　　3.74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入或门1片74LS04反相器1片　　三、实验原理　　集成逻辑门电路是最简单，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时＞，低电平“0”时＜。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面对着使用者，集成电路上的标识凹口左，左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。　　四、实验内容　　㈠根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能　　1.利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下　　按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为1，灭时记为0，把测试结果填入表1—1中。　　2.利用Multisim画出以74LS32　　为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下　　按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态，借助指示灯观测各相应输　　出端F的状态，把测试结果填入表1—2中。　　3.利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下　　按表1—3要求用开关改变电平开关的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—3中。　　㈡根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能　　四二输入与非门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑　　功能。　　按表1—4要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—4中。　　表1—474LS00逻辑功能表　　四二输入异或门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。　　按表1—5要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—5中。　　表1—574LS86逻辑功能表　　五、实验总结　　1.确保集成块完好，否则会耽搁实验进行，浪费时间。在这次实验中，刚开　　始由于没有检查集成块，而一直在检查电路，但实验箱上的灯始终不亮，换了集成块后，电路立马成功导通，耽搁了实验的进程。　　2.实验前应检查集成块是否插反，一旦大意，必然造成损失，烧坏集成块。3.实验时要将电源电压接入+5V，过低电压导致实验测度不准，过高电压会烧毁仪器。　　实验一TTL门电路的逻辑功能测试　　一、实验目的　　1、掌握TTL器件的使用规则。2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能。3、掌握TTL集成与非门的测试方法。　　二、实验原理　　TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路简称TTL电路。54系列的TTL电路和74系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54系列比74系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。74系列的工作环境温度规定为0—700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54系列工作环境温度规定为-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。　　54H与74H,54S与74S以及54LS与74LS系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同，就像54系列和74系列的区别那样。在不同系列的TTL器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。　　TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别对我们进行实验论证，选用TTL电路比较合适。因此，本实训教材大多采用74LS(或74)系列TTL集成电路，它的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为“1”时≥，低电平为“0”时≤。　　它们的逻辑表达式分别为：　　图分别是本次实验所用基本逻辑门电路的逻辑符号图。　　图TTL基本逻辑门电路　　与门的逻辑功能为“有0则0，全1则1”；或门的逻辑功能为“有1则1，全0则0”；非门的逻辑功能为输出与输入相反；与非门的逻辑功能为“有0则1，全1则0”；或非门的逻辑功能为“有1则0，全0则1”；异或门的逻辑功能为“不同则1，相同则0”。三、实验设备与器件　　1、仪器数字逻辑实验箱2、器件　　74LS00二输入端四与非门