《数字电子技术基础》实验.doc

PAGE PAGE 22 实验一 门电路逻辑功能测试 一、实验目的 1．熟悉门电路的逻辑功能。 2．熟悉常用集成门电路的引脚排列及其使用。 二、实验设备和器件 1．直流稳压电源、信号源、示波器、万用表、面包板 2．74LS00 四2输入与非门 74LS04 六反相器 74LS86 四2输入异或门 三、实验内容 1．非门逻辑功能 （1）熟悉74 LS04的引脚排列，如图1（a）所示，其内部有六个非门。 图1 74 LS04引脚图与实验电路 （2）取其中的一个非门按图1（b）所示接好电路。 （3）分别将输入端A接低电平和高电平，测试输出端F电压，并转换成逻辑状态填入表1。 表 SEQ 表 \* ARABIC 1 非门逻辑功能 输入 输出 A F电压（V） F 0 1 2．与非门逻辑功能 （1）熟悉74 LS00的引脚排列，如图2（a）所示，其内部有四个2输入端与非门。 图2 74 LS00引脚图与实验电路 （2）取其中的一个与非门按图2（b）所示接好电路。 （3）分别将输入端A、B接低电平和高电平，测试输出端F电压，并转换成逻辑状态填入表2。 表 SEQ 表 \* ARABIC 2 与非门逻辑功能 输入 输出 A B F电压（V） F 0 0 0 1 1 0 1 1 3．异或门逻辑功能 （1）熟悉74 LS86的引脚排列，如图3（a）所示，其内部有四个2输入端异或门。 图3 74 LS86引脚图与实验电路 （2）取其中的一个异或门按图3（b）所示接好电路。 （3）分别将输入端A、B接低电平和高电平，测试输出端F电压，并转换成逻辑状态填入表3。 表 SEQ 表 \* ARABIC 3 异或门逻辑功能 输入 输出 A B F电压（V） F 0 0 0 1 1 0 1 1 4．与或非门逻辑功能 （1）利用与非门和反相器可以构成与或非门，其原理图如图4所示。 图4 与或非门原理图 （2）按照原理图，将74 LS00和74 LS04接成与或非门。 （3）当输入端为表4中各组合时，测试输出端F的结果并填入表4。 表 SEQ 表 \* ARABIC 4 与或非门逻辑功能 输入 输出 A B C D F电压（V） F 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 5．与非门对输出的控制 （1）任取74 LS00中的一个与非门，按图5所示接好电路。输入端A接一连续脉冲，输入端B分别接高电平和低电平。 图5 与非门对输出的控制 （2）观察两种情况下的输入、输出波形，并将结果用文字总结表述。 四、实验报告 1．根据表格记录测试数据。 2．写出各门电路的逻辑表达式，与测试数据相验证并整理实验结果。 五、思考题 1．查阅数据手册，几种TTL集成门电路的UOH和UOL的典型值是多少？ 2．如何判断门电路的逻辑功能是否正常？ 3．与非门如何实现对输出的控制作用？ 实验二 组合逻辑电路 一、实验目的 1．掌握组合逻辑电路的一般分析方法。 2．熟悉组合逻辑电路的设计方法。 二、实验设备和器件 1．直流稳压电源、万用表、面包板 2．74LS00 四2输入与非门 74LS86 四2输入异或门 74LS04 六反相器 74LS32 四2输入或门 74LS08 四2输入与门 3．1kΩ电阻、发光二极管 三、实验内容 1．组合逻辑电路功能测试 （1）利用74LS00、74LS04、74LS32组成图1（a）所示电路，输出端接LED以便于观察。74LS32引脚排列如图1（b）所示，内部有四个2输入端或门。 图1 组合逻辑电路功能测试 （2）分别将输入端A、B、C按表1所示组合接高、低电平，观察输出端状态，将测试结果填入表1。 表1 组合逻辑电路功能测试表 输入 输出 A B C F 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 （3）写出F的逻辑表达式，将运算结果与测试数据相比较。 2．半加器逻辑功能测试 （1）利用74LS08、74LS86组成如图2（a）所示半加器。74LS08引脚排列如图2（b）所示，内部有四个2输入端与门。 图2 半加器逻辑功能测试 （2）按表2要求改变输入端状态，观察输出端变化，将测试结果填入表2。 表2 半加器逻辑功能测试表 输 入 输 出 Ai Bi Si Ci 0 0 0 1 1 0 1 1 3．全加器辑功能测试 （1）全加器原理图如图3所示，利用74LS08、74LS86、74LS32组成全加器。 图3 全加器逻辑功能测试 （2）按表3要求改变输入端状态，观察输出端变化，将测试结果填入表3。 表3 全加器逻辑功能测试表 输