第七章：可测试性设计(上课).pptVIP

电子信息与自动化学院《智能仪器》 * 电子信息与自动化学院《智能仪器》 * 电子信息与自动化学院《智能仪器》 电子信息与自动化学院《智能仪器》 * 电子信息与自动化学院《智能仪器》 * 电子信息与自动化学院《智能仪器》 电子信息与自动化学院《智能仪器》 电子信息与自动化学院《智能仪器》 电子信息与自动化学院《智能仪器》 电子信息与自动化学院《智能仪器》 第七章 可测试性设计 随着计算机技术的飞速发展和大规模集成电路的广泛应用，智能仪器在改善和提高自身性能的同时，也大大增加了系统的复杂性。这给智能仪器的测试带来诸多问题，如测试时间长、故障诊断困难、使用维护费用高等，从而引起了人们的高度重视。 自20世纪80年代以来，测试性和诊断技术在国外得到了迅速发展，研究人员开展了大量的系统测试和诊断问题的研究，测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性并行发展的学科分支。 1 测试 测试是指在真实或模拟条件下，为确定产品的功能是否正常，性能是否满足要求，是否发生故障及故障的部位，利用手工或自动设备对其进行测量或评定的过程。 第一节 可测试性概述 一 可测试性与可测试设计 2 可测试性（Testability） （1）可测试性的定义 是产品的一种设计特性，是设计时赋予产品的一种固有属性，指产品能够及时准确地确定其自身状态（如可工作，不可工作，性能下降等）和隔离其内部故障的设计特性。 测试性三个基本要素： 可控制性(Controllability) 可观测性(Observability) 可预见性(Predictability) （2）可测试性的标准 可测试性的概念最早产生于航空电子领域，1975年由Liour等人在《设备自动测试性设计》中最先提出 1985年美国颁布的MIL-STD 2165----《电子系统和设备测试性大纲规定了可测试性管理、分析、设计与验证的要求和实施方法，是可测试性从维修性分离出来，作为一门独立的新学科确立的标志。 我国现在执行的两部相关的测试性大纲，分别是1995年颁布的GJB 2547《装备测试性大纲》以及1997年颁布的HB 7503《测试性预计程序》。 (3)产品的测试性组成 1.产品的固有测试； 2.产品外部测试。 二、可测试性设计要求 在尽可能少地增加硬件和软件的基础上， 以最少的费用使产品获得所需的测试能力， 简便、迅速、准确地实现检测和诊断。 三、测试方案 测试方案是产品测试总的设想，它指明产品中哪些部分需要测试、何时测试（连续或定期）、何地测试（现场或车间，或者哪个维修级别）以及所用的测试手段。 1.测试种类 2.测试设备的分类 3.测试方案的组成 * 电子信息与自动化学院《智能仪器》 四、可测试性设计的优缺点 优点 提高故障检测的覆盖率； 缩短仪器的测试时间； 可以对仪器进行层次化的逐级测试； 降低仪器的维护费用。 可测试性设计缺点 额外的软/硬件成本； 系统设计时间增加。 7.2 固有测试性总体设计与通用设计准则 固有测试性： 是指仅取决于产品硬件设计，不依赖于测试激励和响应数据的测试性。它包括功能和结构的合理划分、测试可控性和可观测性、初始化、元器件选用以及与测试设备兼容性等，即在系统和设备硬件设计上要保证其有方便测试的特性。 它既支持机内测试（BIT），也支持外部测试,是满足测试性要求的基础。因此在测试性设计中，应尽早进行固有测试性的分析与设计，避免返工和浪费。 一、固有测试性总体设计 模块划分 功能和结构设计 元器件选择 1.电子功能结构设计 2.电子功能划分 3.模拟电路设计 4.大规模集成电路、超大规模集成电路和微处理器设计 5.数字电路设计 6.测试点设计 7.传感器电路设计 9.指示器 10.连接器设计 11.兼容性设计 二、通用设计准则 7.3 机内测试技术--BIT(Built IN Test) BIT简介 常规BIT技术 智能BIT技术 一、BIT简介 ◆ BIT的由来： 传统的测试主要是利用外部的测试仪器对被测设备进行测试； 所需测试设备费用高、种类多、操作复杂、人员培训困难，而且只能离线检测； 随着复杂系统维修性要求的提高，迫切需要复杂系统本身具备检测、隔离故障的能力以缩短维修时间； BIT在测试研究当中占据了越来越重要的地位，成为维护性、测试性领域的重要研究内容； 在测试性研究中，BIT技术应用范围越来越广，正发挥着越来越重要的作用。 一、BIT简介 ◆ BIT的定义 BIT是指系统、设备内部提供的检测、隔离故障的自动测试能力。 系统主装备不用外部测试设备就能完成对系统、分系统或设备的功能检查、