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- 2019-05-04 发布于广东
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工频过电压耐受下氧化锌压敏电阻冲击老化性能研究
张欣「2行鸿彦⑴杨天琦4宋晨曦1,2
(1 .南京信息工程大学江苏省气象灾害预报预警与评估协同创新中心,南京210044;
南京信息工程大学中国气象局气溶胶与云降水重点开放实验室,南京210044;
南京信息工程大学电子与信息工程学院,南京210044;
南京市气象局南京市气象服务中心,南京210009)
摘要:针对氧化锌压敏电阻芯片在8 / 20gs电流冲击初期,芯片压敏电压变化较小,老化程 度无法通过静态参数判别的问题,本文设计了工频过电压耐受下的ZnO圧敏电阻冲击老化 试验,研究了 ZnO压敏电阻芯片不同冲击老化情况,耐受工频恒定不同幅值过电压过程和 耐受阶段流经芯片内部电流几随时间的变化关系;结合双肖特基势垒理论和ZnO压敏电阻 芯片Voronoi网格微观结构模型,分析试验结论。结果表明:耐受工频恒定相同幅值过电压, ZnO压敏电阻芯片经8 / 20ps电流冲击后老化程度越深其流过芯片内部电流心的初始值越 大;且险|值随时间上升速率与初始冲击老化程度呈正比;相同老化程度ZnO圧敏电阻芯片 耐受过电压幅值越大,耐受时间越短,心的初始值越大。这些可为ZnO圧敏电阻冲击老化 劣化初期判别提供依据。
关键词:氧化锌压敏电阻;8 / 20Ms冲击老化;工频耐受下ZnO压敏电阻内部电流;耐受时 间
中图分类号:TM862 文献标识码:A
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