GB/T 15078-1994贵金属电触点材料接触电阻的测量方法.pdf

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  •   |  1994-05-11 颁布
  •   |  1994-12-01 实施

GB/T 15078-1994贵金属电触点材料接触电阻的测量方法.pdf

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中华人 民共和 国国家标准 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 Gs/T 15078 94 Measuringmethodforcontactresistanceof preciousmetalelectricalcontactmaterials 1 主题内容与适用范围 本标}r-_规定厂贵金属及其合金电触点材料接触电阻的测量方法(静态接触) 本标准适用于贵金属及其合金电触点材料接触电限的测坛。其他金属及合金电触点材料亦可参照 使用 ‘ 2 引用标准 GR别了)(数值修约规则 3 术语和定义 3.1静态接触 ta11l;1011tact 触点相互静止接触、无连续性的离合动作 〔 32 收编电阻 constrictionresistance 电流通过接触面时,PI电流线急剧收缩而产生的电阻增量 13膜tPIItnctnbrancresistance 触点表面膜所产生的电阻 3,4 按触电阳 contactrcststaocc 电流通过触点时在接触处产生的电阻'L是收缩电阻与膜电阻之和 15休积tLJl?tlbulkrc,i,vmcc 触1从材料自身的电阻 其数值与材料的I七阻率和儿何尺寸有关。 3,6探头 脚油e 测Q试样接触电阻的 一种装计、〔测幼时直接与试样的待测而接触.与试祥接触的探头表而为叁A, 而,参考而[if以为不同的形al,} 17 开路电压 opencircuitvoltage 探头与试样脱离接触时.加在它们之'{oj的稳态电压 .:1 方法原理 4门 采用I)tl端子电阻测举法测址接触电阻。价‘稳定的电流I通过相互接触的探头和试样时,在按触处 的两ib将产 (:一个接触电位差V 只要准确测量出I和V..即rp计算出探头与试样之问的接阴电阻 左. 5 测量装置 测址装羚由接触实验机、接触电流回路和接触电压回路二部分组成 国家技术监瞥局1994一05一11批准 1994一12一01实施 Gx!T 15078一94 5., 装rF3线路 整个装N的线路如图1所示 52 接触实验机 接触实验机主要包括下列部件: 5.2.1 机座— 要求稳固牢靠.用大约10mm厚的整块钢板制成 5.2.2 试样夹具— 用于装载试样,要求能方便地夹住或取下样捉:c对于不同型式的试样应配备相I-, 的夹具 5.2.3试样平台— 用于安装试样夹具。它应配有移动的机构、可沿xY轴方向水.17位移或以1外白水 平转动.供选择试样上测量点的位置 5.2.4 探头夹具一一用于装配测量探头的装谈,应能方使地装卸探头 图2为探J夹具抓意图一。为Fr? 螺钉紧固的双片活动夹具 b为改造过的显微硬度计压头夹具 图 1 测觉装置的线路图 E 直流电M,;P-电位器 R一可调电阻,-A 电流表 凡 标准电阻;T 接触实验机;K,,K 开关 K:换向 开关;K 选择开关;V 电压测斌仪 电流引线 电位引线 图2 探头夹l.示意图 5,2.5 加荷装ry}t 用来提供测量所需的接触压力。压力可山缺码、弹簧或电'}LJ力提供 天"{.梁结 构是一种简便的加荷装置,用祛码为压力源 横梁的 一端安装探头夹具和载旅盘1h 一端安有平衡R, 采用弹簧或电磁力加荷,则应事先对所提供的力进行校rft;和分度 5.2.6 探头驱动器— 用来提升或降下探头的装粉,以实现探头和试样的断月:或闭合 为减小探I 卜 Gs/1 15078一94 降的冲击作用和跳动,要求闭合时探头};降的线速度小于2.5mm/s.推荐的优选值为1.5mm/s 5.2.7 防尘罩—

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