可测性设计及DFT软件的使用.ppt

20007-11-5 共49页 可测性设计及DFT软件的使用 张艳 2007-11-5 Outline DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG 设计实例 DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 测试(1-3) CMOS 反相器 中的物 理缺陷 测试(2-3) 目前的 产品测 试方法 测试(3-3) ATE DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 DFT(Design For Test) controllability observability DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 故障模型 物理故障 逻辑故障 封装引脚间的漏电或短路 单一固定故障 芯片焊接点到管脚连线断裂 延时故障 表面玷污、含湿气 静态电流故障 金属层迁移、应力、脱皮 … 金属层开路、短路 … … … 单一固定故障 等价故障(1/3) 等价故障(2/3) 等价故障(3/3) NAND的输入SA0和输出的SA1效果等效 故障压缩 不可测故障 DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 ATPG ATPG Automatic Test Pattern Generator D算法 PODEM(Goel) FAN(Fujiwara和Shimono) 高级算法 D算法 D算法-activate the SA0 fault D算法-propagate fault effect D算法-anatomy of a test pattern D算法-record the test pattern DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 DFT常用方法 功能点测试 ? 需在每个测试点增加可控的输入和输出，I/O增加 扫描测试? ? 结构化的DFT技术，全扫描和部分扫描 内建自测试 ? 消除了对ATE的存储能力和频率的限制，更具发展潜力 扫描测试(1/2) 扫描测试(2/2) Outline DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG 设计实例 设计 流程 Test-Ready Compilation set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop \ -clock_mixing no_mix \ -chain_count 1 set_dft_signal -view existing_dft -type ScanClock -port clk -timing {1 8.5} set_dft_signal -view existing_dft -type Reset -port rst_n -active_state 0 set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port se -active_state 1 set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port a set_dft_signal -view existing_dft -type ScanDataOut -port o Test DRC check_scan or check_test 这两个命令检查以下四类可测性问题： 模型问题，诸如是否缺少相应的扫描单元； 拓扑结构问题，例如是否存在不受时钟控制的组合逻辑反馈回路； 确定测试协议，如找出测试时钟端口，找出测试模式下固定电平的测试状态端口； 测试协议仿真，检查扫描过程是否可以正确的进行。 Preview Scan Architecture preview_scan –show all 预览将要生成的扫描链的大致情况，及时发现不合乎要求的地方。 Scan Insertion insert_scan 使扫描触发器串链，建立和排序扫描链，同时进行优化以去除违反的DRC规则。 Report report_constraint -all_violators report_scan_path -view existing_dft -chain report_scan_path -view existing_dft -cell estimate_test_coverage Export to TetraMAX write_test_protocol -output ./report/add.spf write -f verilog -hie -output ./repo