扫描电镜检测报告.docx

扫描电镜检测报告 　　扫描电镜分析实验　　一实验目的　　1.了解扫描电子显微镜的原理、结构；　　2.运用扫描电子显微镜进行样品微观形貌观察。　　二实验原理　　扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射以及背散射电子等物理信号，二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。扫描电镜由下列五部分组成，如图1所示。各部分主要作用简介如下：　　1.电子光学系统　　它由电子枪、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成，如图1所示。为了获得较高的信号强度和扫描像，由电子枪发射的扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。常用的电子枪有三种形式：普通热阴极三极电子枪、六硼化镧阴极电子枪和场发射电子枪，　　其性能如表2所示。前两种属于热发射电子枪，后一种则属于冷发射电子枪，也叫场发射电子枪。由表可以看出场发射电子枪的亮度最高、电子源直径最小，是高分辨本领扫描电镜的理想电子源。　　电磁透镜的功能是把电子枪的束斑逐级聚焦缩小，因照射到样品上的电子束斑越小，其分辨率就越高。扫描电镜通常有三个磁透镜，前两个是强透镜，缩小束斑，第三个透镜是弱透镜，焦距长，便于在样品室和聚光镜之间装入各种信号探测器。为了降低电子束的发散程度，每级磁透镜都装有光阑；为了消除像散，装有消像散器。　　105～106　　107～1081～10～　　≈500≈－410-7～10－8六硼化镧阴极电子枪场发射电子枪　　样品室中有样品台和信号探测器，样品台还能使样品做平移运动。　　2.扫描系统　　扫描系统的作用是提供入射电子束在样品表面上以及阴极射线管电子束在荧光屏上的同步扫描信号。　　3.信号检测、放大系统　　样品在入射电子作用下会产生各种物理信号、有二次电子、背散射电子、特征X射线、阴极荧光和透射电子。不同的物理信号要用不同类型的检测系统。它大致可分为三大类，即电子检测器、阴极荧光　　检测器和X射线检测器。　　图1扫描电子显微镜构造示意图　　4.真空系统　　镜筒和样品室处于高真空下，一般不得高于1×10－2Pa，它由机械泵和分子涡轮泵来实现。开机后先由机械泵抽低真空，约20分钟后由分子涡轮泵抽真空，约几分钟后就能达到高真空度。此时才能放试样进行测试，在放试样或更换灯丝时，阀门会将镜筒部分、电子枪室和样品室分别分隔开，这样保持镜筒部分真空不被破坏。　　5.电源系统　　由稳压、稳流及相应的安全保护电路所组成，提供扫描电镜各部分所需要的电源。　　三实验仪器　　日立S3400扫描电子显微镜　　四实验步骤　　1.样品的制备　　2.仪器的基本操作　　1）开启稳压器及水循环系统；　　2）开启扫描电镜及能谱仪控制系统；　　3）样品室放气，将已处理好的待测样品放入样品支架上；　　4）当真空度达到要求后，在一定的加速电压下进行微观形貌的观察。　　六．观察结果　　tem实验报告学院：材料科学与工程学院班级：材型1202学生：刘玉蒙学号：XX时间：XX年7月实验报告　　一、实验目的与任务　　1.初步了解透射电镜操作过程。　　2.初步掌握样品的制样方法。　　3.学会分析典型组织图像。　　二、透射电镜的结构与原理透射电镜以波长极短的电子束作为光源，电子束经由聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成　　一束近似平行的光线穿透样品，再经成像系统的电磁透镜成像和放大，然后电子束投射到主　　镜简最下方的荧光屏上而形成所观察的图像。在材料科学研究领域，透射电镜主要可用于材　　料微区的组织形貌观察、晶体缺陷分析和晶体结构测定。透射电子显微镜按加速电压分类，通常可分为常规电镜(100kv)、高压电镜(300kv)和超　　高压电镜(500kv以上)。提高加速电压，可缩短入射电子的波长。一方面有利于提高电镜的　　分辨率；同时又可以提高对试样的穿透能力，这不仅可以放宽对试样减薄的要求，而且厚试　　样与近二维状态的薄试样相比，更接近三维的实际情况。就当前各研究领域使用的透射电镜　　来看，其主要三个性能指标大致如下：加速电压：80～3000kv分辨率：点分辨率为～、线分辨率为～最高放大倍数：30～100万　　倍尽管近年来商品电镜的型号繁多，高性能多用途的透射电镜不断出现，但总体说来，透　　射电镜一般