《等厚干涉》-公开·课件.pptVIP

§4.1 等厚干涉 一、用劈形膜测微小厚度 如图4.1.1，把两块光学平玻璃OB和OA迭在一起(图中略去了玻璃厚度)，在一端插入欲测厚度的薄片，则在两玻璃板间形成一个劈形空气膜，也称空气劈尖。 当用单色平行光垂直照射时，任一条光线在空气劈尖上下两表面反射产生的两条光线是相干光，考虑到空气的折射率可看作是1，其光程差为： * 【实验目的】 1. 观察研究等厚干涉现象。 2. 利用等厚干涉测量微小厚度和 凸透镜的曲率半径。 3. 学习逐差法处理数据。 【实验原理】 如果两束反射光在相遇时的光程差取决于产生反射光的薄膜厚度，则同一干涉条纹上各点所对应的薄膜厚度相同，这就是等厚干涉 。 在白光照射下，肥皂泡、油膜以及氧化的金属表面上的彩虹，都是薄膜上常见的等厚干涉现象。这种干涉条纹类似于地形图上的等高线，每一条纹就是膜上一切光学厚度(薄膜折射率n与厚度d的乘积nd)为常数的点的轨迹。一般情况下，n并不改变，所以条纹的位置实际上对应于薄膜厚度为常数的区域。本实验将根据等厚干涉条纹的分布分析薄膜的特性。 图4.1.1 劈形薄膜干涉的观测 (4.1.1) 式中e为入射点薄膜的厚度，λ为入射光的波长。 (k=0，1，2，…) 是相消干涉，呈暗条纹； (k=1，2，…) 当 当 (4.1.2a) (4.1.2b) 是相长干涉，呈明条纹。整个劈形空气膜上的干涉呈现一族与劈棱平行的间隔相等、明暗相间的直条纹，且相邻条纹之间的厚度差 (4.1.2a)和(4.1.2b)式表示的是最大相消、相长干涉的条件，对应于干涉条纹的最暗和最明。实际上条纹的明暗是逐渐过渡的，并无明显的界限，但由于人眼容易判定最暗，所以常观测暗条纹来进行有关的测量。把(4.1.1)式和(4.1.2a)式联立，解得与k级暗条纹对应的空气膜厚度为 (4.1.3) 设劈尖上由劈棱到被测厚度之间暗条总数为N，则被测厚度 (4.1.4) 若入射光波长λ已知，则数出N即可求得d。 二、用牛顿环测平凸透镜的曲率半径 设被测平凸透镜的凸面曲率半径是R，把它的凸面与一光学平玻璃迭在一起，如图4.1.2(a)，则二者之间就形成一空气薄膜，中间接触点厚度为向边缘逐渐变厚。当波长为λ的单色光垂直射入 时，干涉图样是以接触点为中心的同心园环，明暗相间，中心条纹宽而疏、边缘条纹细而密，称为牛顿环，如图4.1.2(b)，牛顿环也是等厚干涉条纹，表示劈形空气膜光程差的(4.1.1)式仍然适用。由图4.1.2(a)可知。 化简得 由于空气膜的厚度远小于透镜的曲率半径，即 eR，可略去e2，得 (4.1.5) 将（4.1.5）式代入(4.1.1)式，得 与相消干涉的条件(4.1.2a)联立，可解得 (k=0，1，2，… ) (4.1.6) 式中rk为第k级暗环的半径，λ已知，测出rk就可由(4.1.6)式求得R 。理论上，透镜凸面和平板玻璃只有一点接触，但由于接触压力引起的形变，接触处实际上为一圆面；再者，若有微小尘粒，又能使两玻璃面相离一定距离而没有接触点，这两种情况都引入附加的光程差，给测量结果带来系统误差。设附加厚度为±a，则由相消干涉的条件 得 将(4.1.5)式代入上式,得 即系数误差相当于（4.1.6）式右端增加了一常数项 此误差可用下述方法消除。取第m、n级暗条纹，相应的暗环半径为 两式相减，即可消去附加项，得 在实验中，由于不易确定暗环中心,因而不便测暗环的半径，所以用易测量的直径取代得 (4.1.7) 【实验仪器】 一、测量显微镜（读数显微镜） 测量长度时，如果被测物体不能与量具直接接触，或者被测物体较小时，常用光学仪器来进行测量，其中最常用的就是测量显微镜，也叫读数显微镜。显微镜的光路如图4.1.4。它可以用来测量刻线距离、刻线宽度、园孔直径等，用途较广。 被测物位于物镜焦点F1外稍远处，因此通过物镜成一个放大的实像，位于目镜焦点F2之内一点。此实像作为目镜的物，经目镜成虚像到明视距离上进行观测。 显微镜上装配一定的测量系统就成为测量显微 图4.1.4 显微镜光路图 镜，其读数原理与千分尺相同。 1.目镜接筒 2.目镜 3.锁紧螺钉 4.调焦手轮 5.标尺 6.测微鼓轮 7.载物台 8.半反镜 9.物镜筒 图4.1.5 测量显微镜结构 图4.1.6 测量显微镜光学系统 图4.1.5是载物台移动式显微镜，图4.1.6是其光学系统，目镜安装在目镜座的目镜套管内，可前后伸缩，目镜止动螺旋可以固定目镜的位置，目镜可转动，也有固定螺旋。物镜直接装在镜