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一、专业名词 1.名词解释 连续X射线（白色X射线）：由连续的各种波长组成，其波长与工作条件无关的X射线。由于快速移动的电子在靶面突然停止而产生的轫致辐射。 特征X射线（标识X射线）：作为阳极材料的特征或标识，当管电压超过激发电压后才产生。当原子内层电子打到外层或者使原子电离，外层电子落到内层发生跃迁，使原子多余能量作为x射线发射出来。 K系标识X射线：当管电压大于VK时，可将阳极材料中k层电子撞击出来，在k层中形成一个空位，这个过程称为激发，VK为k系的激发电压。对L、M、N、……各层中电子跃入K层空位时发出的X射线分别称为Kα、Kβ、Kγ 物相分析：材料中一种结晶物质称为一个相。利用X射线衍射的方法确定材料中包括哪几种结晶物质或某种物质以何种结晶状态存在的分析。 电子显微分析：利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的物理信号，对试样的微区形貌、晶体结构和化学组成的分析方法。 分辨本领：显微镜能分辨的样品上两点的最小距离。 磁透镜：由磁场制成的透镜。静电透镜：由静电场制成的透镜。 球差：电子透镜中心区域和边缘区域聚焦电子的能力不同所造成的像差。 像散：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差，会使不同方向的电子束的聚焦能力出现差别，圆像变成椭圆斑。可由附加磁场的电磁消像散器来校正。 色差：由入射电子波长（或能量）不一造成的像差，能量不同的电子束将沿不同轨迹运动。引起该能量变化的原因：一是电子的加速电压不稳定；二是试样不均引起的透过电子束部分发生非弹性散射。 景深：在保持像清晰的前提下，试样在物平面上下沿镜轴可移动的距离（试样超过物平面所允许的厚度）。 焦长：在保持像清晰的前提下，试样在像平面沿镜轴可移动的距离（观察屏沿镜轴所允许移动的距离）。 透射电镜：以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的，高分辨本领及放大倍数的电子光学仪器。 扫描电镜：利用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，以二次电子为主要检测对象的仪器，可分析块状样品。 质厚衬度：由于试样各部的厚度和密度存在差异，因而各部分对入射电子的散射能力不同所形成的衬度。 衍射衬度：晶体中各部分因满足衍射条件的程度不同而引起的衬度。 相位差衬度：透射电子束与各级衍射束之间相互干涉形成，与透镜的失焦量和求差值有关。 形貌衬度：取决于试样表面对入射电子的倾角的衬度，凸尖及台面边缘处的二次电子发射最多，图像最亮。 成分衬度：原子序数大处亮度高。电位衬度：电位高的地方更亮。 明场成像：光阑孔只让透射束通过，荧光屏上亮的区域是透射区，即接受非晶区透射光的像。 暗场成像：光阑孔只让衍射束通过，荧光屏上亮的区域是衍射区，即接受晶区衍射光的像。 电子探针仪：利用高度聚焦的高速电子轰击材料表面，由X射线能谱仪或波谱仪检测，从试样表面有限深度和侧向扩展的微区体积内产生的特征X射线波长及强度得到微区的定性或定量的化学成分的微区成分分析仪。 俄歇电子能谱：用具有一定能量的电子束或X射线激发样品产生俄歇效应，通过检测俄歇电子的能量和强度，从而得到有关材料表面层化学成分和结构的信息的方法。 热分析：在程序控制温度（线性、非线性的升、降温，循环，恒温等，即温度看作时间的函数T=φt） 差热分析：是在程序温度控制（升温或降温）下，测量试样与参比物（热惰性物质）之间的温度差与温度关系的一种技术。 差示扫描量热：是在程序温度控制下，测量输入到物质和参比物之间的功率差（或热流、热通量）与温度的关系的一种技术。分为功率补偿型和热流型。 热重分析：在程序控温下测量获得物质的质量与温度关系的一种技术。 基线漂移：试样重量没有变化而记录曲线却指示出有质量变化的现象。 静态热机械分析：施加一定荷重于材料上，并在一定范围内改变温度，以观察试样形变随温度的变化的技术。 动态热机械分析：是在程序控制温度下，测量物质在振荡负荷下的动态模量或阻尼随温度变化的一种技术。 红外活性：只有发生偶极矩变化的振动才能引起可观测的红外吸收谱带的振动活性。反之为红外非活性。 拉曼活性：伴随有极化率变化的振动活性，即对称振动对应拉曼活性，不对称振动对应红外活性。无对称中心分子（例如SO2等），三种振动既是红外活性振动，又是拉曼活性振动。 Raman散射：当一束单色光照射到物质表面时，一部分入射光透过物质，一部分在物质界面上产生反射，此外还会在物质的不同方向上出现十分微弱的散射光，散射光中大部分是与激光波长相同的弹性散射光（瑞利散射），还有比激发光波长长的称为斯托克斯线，比激发光波长短的叫反斯托克斯线，该现象称为拉曼散射效应。 生色团（发色团）：最有用的紫外—可见光谱是由π→π*和n→π*跃迁产生的。这两种 助色团：有一些含有n电子的基团（如-OH、-OR、-NH2、-NHR、-X等），它们本身没有生色功能（不能吸收λ200nm的光），但当它们与生色团