GM计数管的坪特性曲线进入计数管的放射性粒子不.PDFVIP

G-M 计数管实验数据处理 储冬玮 10300190080 一、GM 计数管的坪特性曲线 进入计数管的放射性粒子不变的情况下，改变加在计数管电极上的电压，由计数管记录相应 的计数率（单位时间的技术次数）得到坪特性曲线。 图1 GM 计数管坪特性曲线（无微分） 图2 GM 计数管坪特性曲线（微分I） 如图1：计数率通过多功能脉冲计数分析仪的示数读出 X 射线：U=15.3kV，I=0.46mA 输出电阻=1k Ω，增益=50，微分=max，积分=0 如图2：计数率通过多功能脉冲计数分析仪将数据输入电脑后读出（*大于1000 的示数在分 析仪上无法显示） X 射线：U=20.0kV，I=0.98mA 输出电阻=5k Ω，增益=50，微分=I，积分=0 分析： 图1 无微分：第一次实验X 射线高压为17.2kV，I=0.46mA，由于X 射线过强，计数率在电压 大于337V 时，计数率为1000 或2000 这两个数值，计数率超过了测量阈值，所以电压大于 337V 时的计数率的值出现问题。第二次实验降低X 射线高压，保持电流不变。得出计数器 的坪特性曲线。理论上，坪坡度【由于多次计数的增加和计数管灵敏体积的增大（末端效应）】 的斜率会大于零，可是实验的结果却是坪区有下落趋势。可能是由于增大计数管电极上的电 压后，脉冲波形的宽度增加，脉冲重叠后计数器无法分辨单个脉冲，对重叠的两个或两个以 上脉冲只计数一次，使得在盖革区出现电压增大计数率反而减小的现象。 图2 微分I：加上微分电路后的坪特性曲线在盖革区有了上升趋势，这是由于微分电路使得 每个脉冲信号的变窄，计数器更容易辨别重叠在一起的脉冲，减少了漏计数，使计数更加准 确。 二、采样电阻、电源电压对GM 计数器输出脉冲波形的影响 1、电源电压对GM 计数器输出脉冲波形的影响 改变电源电压，R=5k Ω，增益2.5 ×20 U1 到U13 电源电压增大，得到如下图的脉冲波形。 1 图3 不同电源电压下脉冲原始波形图 由于量程增大，所以出现三段图像。1-5 为20.0mV 每格，6-12 为50.0nmV 每格，13 为100.0mV 每格。起始位置在-3 格处，因此三种量程对应的初始电压值为-60.0mV、-150 mV、-300mV （-280mV ）, 因此三组值同时减去初始值后作图。 波形呈锯齿状是由于设备记录时间只能保存三位有效数字，因此出现同一个x 值对应多个y 值。重新调整横坐标数值后得到如下图： 图4 不同电源电压下脉冲波形图 分析： 随着电源电压的增大，脉冲波形的幅度会增大，宽度也会增大。 增大计数管电极上的电压，进入计数管的射线产生的电子数目增加，电子迅速到达阳极后让 阳极电位下降得更多，使得在阳极周围形成的 “正离子鞘”，从阳极到达阴极的速度变慢， 消耗时间增长。因此，阳极上得到的负电压脉冲的幅度更高，脉冲的宽度也更大。 2 2、采样电阻对GM 计数器输出脉冲波形的影响 改变采样电阻(N：1-200 对应时间0.0015-0.002s) 图5 不同采样电阻下的脉冲波形（376V ） 图6 不同采样电阻下的脉冲波形（586V ） 在电源电压为376V 时1K Ω电阻对应的脉冲幅度过小淹没于噪声，因此增大电源电压测了两 组图。 随着采样电阻的增大，脉冲波形的幅度会增大，宽度也会增加。 计数管可以看作是一个电容器，电源电压通过采样电阻向计数管充电，增加采样电阻会使得 充电电流减小，充电变慢，而延长了充电时间，因此脉冲宽度增加。 脉冲幅度增大？ 三、放大、微分、积分过程对脉冲特性的影响 1）微分 （N：1-500 对应时间0.001-0.0015s ） 微分过程是作用于放大信号的。 原始图像如下 图7 微分过程对脉冲特性的影响（原始数据） 其中前7 组电压为500mV 每格，后两组为200mV 每格。