毕业论文：4f相干成像系统及其在非线性光学测量中的应用.docVIP

4f相干成像器系统及其在非线性光学测量中的应用 Sudhir Cherukulappurath, Georges Boudebs, and Andre′ Monteil 摘要：本文以平顶光束入射的4f相干成像器系统为基础，呈现了一种实用、简单的技术来表征非线性光学性质。它描述了，有非线性吸收和无非线性吸收的非线性折射材料测量的理论模型及实验细节。本文中，通过分析非线性滤波器后面的图像的光强分布可以表征非线性特性，该非线性滤波器穿过了位于装置傅里叶平面上的材料。我们将会发现，在Z扫描技术中使用平顶光束而非高斯光束，这使得测量的灵敏度增强。这种单个激光冲击技术的使用可以研究与强度相关的非线性性质。本文通过测量CS2以及一些大家熟知的硫系玻璃（As2S3、As2Se3、GeSe4和Ge10As10Se80）的系数n2的绝对值，验证了这种非线性成像技术。而得到的值与用其他技术得到的值是一致的。 1、引言 前不久，通过Mach–Zehnder技术（MZT）2—4已经调查1了两种硫系玻璃（As2S3和As2Se3）的实验非线性光学性质和理论非线性光学性质。实验数据清晰地表明，我们不能用平常的三阶非线性理论来描述实验中使用的样品。事实上，强度相关系数n2归因于五阶非线性极化率的实部。MZT是从一个单激光射击所获得的一种有效的测量方法。这是寻找强度相关n2的测量值时绝对需要的方式。另一种技术，就是所谓的Z扫描5，之前常用它来表征硫系玻璃6—9的三阶响应。这个单光束方法需要几个激光射击来产生复杂的非线性折射率系数n2，这个值是可测量到的。当沿着Z轴扫描非线性材料时，给出的结果n2是围绕着焦面的入射光强的平均值。实际上，当样品靠近焦点，光束辐照增强。在低光束辐照情况下（当样品远离焦点时）立方-五次材料的非线性响应与高光束辐照情况下（当样品靠近焦点时）立方-五次材料的非线性响应不同。一个单激光射击的测量方法需要给出更多有说服力的结果。但是，MZT很没有说服力的一点就是光学装置的复杂性，尤其是当使用不稳定的光束输出时。由于它们在通讯光谱范围内相对较高的功率，这些实验需要光学参量发生激光器。输出光学质量差的光束产生一些类似下面的实际困难。（1）从一个激光射击到另一个激光射击，空间强度分布的变化是非常严格的，特别是经过改进的MZT。MZT中，需要无泵浦光束的线性捕获来描述光学质量差的样品（详细描述简参考3）。（2）光学装置的日常校准，特别是对于MZT，是非常沉闷乏味的。（3）在输出激光束方向上的波动，对于两种技术来说都是非常关键的。像是四波混频10或者克尔椭圆偏振11的其他方式都可以用来描述三阶非线性光学响应，但是这些方式为了测量需要好几个激光射击。 为了描述三阶极化率系数12，本文已经给出了与相干光学处理器（4f系统）相结合的一种非线性空间滤波方式。这种结合是简单的，并且这种方式的灵敏度很好。其他的一些好处，包括没有非线性介质的位移，为了估计n2的一个单射击，激光束统计波动灵敏性较低，通过CCD对强度的准确测量。这里也给出了一个研究，该研究关于处理图像形成的模拟，包括位于4f系统共同焦点的非线性介质。本文用一个简单的成像模型（使用傅里叶光学）来定性描述记载于文献14的实验结果。这个模型给出介质的非线性透过率（非线性吸收和移相的一般情况）和4f系统的光学传递函数。对于用于显微镜下线宽测量的应用，我们利用振幅光栅物体或者相位矩形物体或者两者来做研究。 更进一步说，Zhao 和Palffy-Muhoray已经使用平顶光束而不是高斯光束，并通过2.515因子来改进Z扫描实验的灵敏度。将平顶光束作为4f成像系统的物，这里将会给出，在只有一个激光射击下，也有可能提取材料的非线性光学性质。平顶光束物体的实验里过滤的图像和图像的数值仿真作比较，引出过滤材料的非线性性质。首先，我们考虑一些大家熟知的非线性材料（例如CS2和As2S3）来验证这种成像技术。接着给出，对于给定强度相关值n2的每一次激光射击，也可以描述非线性吸收高的材料（例如As2Se3和GeSe4）。因此，这再一次验证了载于文献1的结果。我们发现由非线性成像技术（NIT）给出的值n2与由Z扫描或者MZT得到的这些值很一致。 总的来说，本文将会呈现给大家所有上面提到的灵敏的非线性衍射技术的一个合成。为了避免Z扫描材料，这意味着必须使用几个激光射击。我们将重点放在，由照射在相位或者振幅空间滤波器上的入射光谱的自衍射引起的夫琅禾费衍射图像的强度分布。通过入射强度（光谱）引出相位非线性材料或者振幅非线性材料或者二者都有。 在小结2中，简要回顾一下用于计算的理论模型。小结3中处理数值仿真。小结4致力于实验细节。在小结5中，最后给出测量的结果并且讨论。 2、理论模型 在这一部分，简要回顾文献12和13中详细讲述的模型