粒子位置和粒径的IPI测量-光学工程专业论文.docxVIP

万方数据 万方数据 中文摘要 粒子位置、尺寸测量在科研、工程等领域具有重要的研究意义。干涉粒子成 像(IPI)技术是一种目前倍受关注的粒子测量技术，其基本原理是基于 Mie 散射理 论，通过测量粒子干涉条纹图的位置和条纹数/条纹频率得到粒子位置坐标和尺 寸大小，其测量精度依赖于图像处理技术。因此，从干涉条纹图中自动提取干涉 条纹信息是 IPI 测量技术的难点和关键。围绕这一研究内容，基于本课题组的研 究基础之上，本文进一步研究 IPI 图像处理算法，所做的主要工作如下： 1. 分析了粒子干涉条纹图的光场分布，对粒子的圆形干涉条纹图和线形干涉条 纹图进行了仿真。 2. 提出一种基于单向梯度匹配和傅里叶变换技术的干涉条纹图定位和条纹数/ 条纹间距提取方法，利用改进 Rife 方法对频率进行亚象素细分。对 2D 圆形 和 1D 线形干涉条纹图进行了模拟，分析了条纹频率提取与重叠系数 ??的关 系，给出了在不同方向重叠时，算法能准确提取出被覆盖粒子的位置信息和 条纹频率的重叠系数。 3. 设计并完成了粒子定位测量的验证性实验。对 60 个随机分布的圆形干涉条 纹图，算法得到的粒子对的相对距离比 d??d 为 19.47±0.02，其绝对误差和相 对误差分别为 0.06 和 0.31%。对于 100 个线形干涉条纹图，算法得到粒子对 的 d??d 为 19.45±0.02，其绝对误差和相对误差分别为 0.04 和 0.21%。实验结 果表明，基于单向梯度匹配算法具有较高的粒子定位精度。 4. 搭建 IPI 光路系统，对 45μm 的标准粒子的粒径进行测量。测量结果为：对 圆形条纹图，粒子测量粒径为 44.49?0.27?m，其绝对误差和相对误差分别为 0.51?m 和 1.13%。对线形条纹图，粒子测量粒径为 44.55?0.30?m，其绝对误 差和相对误差分别为 0.55?m 和 1.22%。测量结果验证了算法的可行性。 关键词：干涉粒子成像，单向梯度匹配，改进 Rife 算法，位置和粒径测量 ABSTRACT The measurement of particle position and size play an important role in engineering, research and other fields. Interferometric particle imaging (IPI) technique, based on Mie scattering theory, is a popular particle measuring technique, which can obtain the particle position coordinates and size by the position and fringes number/fringes frequency of interference fringe pattern. The measurement accuracy depends mainly on imaging processing. So extracting fringes frequency automatically from interference fringe pattern is difficult and critical for IPI technique. Based on research of our group，this paper further study IPI image processing algorithm.The main work as follows has been done: Analyze the expression of particle interference fringe pattern, and simulate circle fringe pattern and line fringe pattern of the particles. A new IPI imaging algorithm, based gradient-matched and Fourier transform technique, has been proposed, and frequency is subdivided using improved-Rife algorithm. The circle fringe pattern and line fringe pattern simulated by computer, has been analyzed by this imaging algorithm. The relations b