第10章--电路的优化设计方法.pptVIP

* 考虑电路参数的容差及以随机性的电路优化问题，称之为统计优化问题，或统计电路设计。 目前所提出的各种统计优化方法大致分为两类： 确定性方法 试图用一确定性数学规划问题的序列逐步逼近最优中心值设计问题的解，称之为确定性统计电路设计方法。 例如，某种确定性方法可以对合格域边界做出某种描述，将参数中心选在合格域中心点，并在所确定的合格域内嵌入一个尽可能大的容差域，而使合格率达到最大。 这类方法实用程度不高。 * B. 统计性方法 采用各种改进的蒙特卡罗方法估计电路合格率的数值或梯度值，据此来改变电路参数中心值，以提高合格率。 优点：适合于大规模电路的优化设计。 缺点：需在不同参数中心值上进行抽样点数很大的蒙特卡罗分析和电路模拟，故计算量很大。 具体的统计优化算法有很多种。例如，以实现100%合格率为目的的最坏条件设计；在给定合格率的情况，求最大的容差域；在给定合格率的情况，求最佳的电路性能等等。 * 中心值优化法 以合格率最大为目标 2. 中心值优化的数学模型 概率密度函数 参数中心 合格域 容差域 * 蒙特卡罗方法估计电路设计中心点为P0时的合格率： 10.6 统计优化方法 * 3. 统计搜索法进行最优中心设计 （1）统计搜索法的基本原理和步骤 不合格点在参数空间的重心GF 合格点在参数空间的重心Gp 沿此方向移动原中心值P0的坐标，使合格率上升 对电路元件参数取