一种RAM自检新方法.PDFVIP

《工业控制计算机》2006年19卷第9期 69 一种RAM自检的新方法 ANew OnRAM Way Self—cheCking 陈卫兵(阜阳师范学院物理系，安徽阜阳236041) 陈 键 (安徽电子信息职业技术学院计算机系，安徽蚌埠233000) 摘要 在各种单片机应用系统中，RAM与该应用系统的正常工作紧密相关，RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系 统带来的损害。介绍了RAM的自检的一般方法并且给出了一种新的自检方法。 关键词：单片机，自检，RAM Abstracl with workina¨kjndsof is RAMis reIatedthenormal JicatiOn t0 clOsely singIechjpprocessOrapp systems．itImpOss．bIe 0f t0 makesureRAM’s in orderaVo．d harm．This introducesSomenormaImethodsonRAM normaI．ty unexpected paper fOr chlp a OnRAM self—checkingsingIe prOcessOrapplIcaliOnsystem，andgiVenew、^，ay seIf—checking． KeywO州s：singlechjpprOcessOr，se盱一checking，RAM 在单片机应用系统中，RAM的正常与否，直接关系到该系 通过移位产生的。在地址变化的同时给相应的存贮单元写入不 统能否正常工作。在系统开始正常工作之前，如能对系统进行自 同的伪随机数据。在以上的写单元操作完成后，再倒序的将地址 检，则可有效地避免因RAM失常对应用系统带来的破坏。 信号移位读出所写入的伪随机数据进行检测。例如：设地址线为 1 系统RAM的自检方法 方法1：在参考文献【1】中，给出了一种测试系统RAM的方 法，该方法是分两步来检查，先后向整个数据区分别送#00H和 舟FFH，再先后读出比较，若不一样，则说明出错。 方法2：在方法1中，并不能完全检查出RAM的错误，在参数据。该方法的故障覆盖率和MARCH—G算法达到的故障覆盖 率相比降低率不到1％，因此在实际的应用测试中是完全满足要 考文献[2】中对进行RAM检测的一种标准算法MARCH—G进 行了分析介绍，MARCH—G算法能够提供非常出色的故障覆盖求的。从以上的分析可以看出，(设地址线为n根)CPU只对系 率。但是所需要的测试时间是很大的。MARCH—G算法需要对 全地址空间遍历3次。设地址线为n根，则CPU需对RAM访 问6水2n次。采用MARCH—G算法能够检查出RAM本身的缺这种方法的优点是也可以检测到RAM地址线发生断路的故障， 陷以及数据线、片选线和读、写信号线等出现错误的情况；但在 从而不再需要采用逐线扫描法阁对RAM进行额外的检测，这点 许多情况下对地址线发生断路的错误是无能为力的，在参考文 MARCH—G算法是无法比拟的。 献[1】中也给出了一种测试系统RAM地址线发生断路的方法。3结束语 但是仍然有自检所需的时间开销大和检测的精度不够的缺点， 本文给出了一种通过地址信号的移位来完成系统RAM测 针对这种缺点一种逐线扫描法网被给出，这种逐线扫描法每检测 试的新方法。这种检测方法由于测试开销小