利用磁光克尔效应计算材料的介电张量非对角元-物理实验杂志.pdfVIP

第 卷 第 期 物 理 实 验 ３８ ９ Ｖｏｌ．３８ Ｎｏ．９ 　 　 　 　 　 　　　　　　　 年 月 　　　　　 　　　ＰＨＹＳＩＣＳＥＸＰＥＲＩＭＥＮＴＡＴＩＯＮ ， ２０１８ ９ Ｓｅ．２０１８ 　 　 　　 ｐ 櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶 文章编号： （ ） １００５４６４２２０１８０９００１２０５ 利用磁光克尔效应计算材料的介电张量非对角元 曹 克，张 霞，王玉颖，孙学博，孔祥和 　 　 （曲阜师范大学 物理工程学院 山东省激光偏光信息重点实验室，山东 曲阜 ２７３１６５） 摘 要：利用磁控溅射的方法制备了 和 ／ 双层薄膜样品 通过椭偏测量和磁光克尔测量，得到薄膜样品的 Ａ Ａ Ｃｏ ． 　　 　 ｇ ｇ 有效光学常量和有效磁光参量，并通过数值分析得到介电张量的非对角元 实验结果表明：用通常公式计算和磁光测量 ． 与椭偏测量结合计算非磁样品 薄膜的光学常量的结果一致，验证了基于磁光测量方法计算介电张量非对角元的正 Ａｇ 确性． 关键词：磁光克尔效应；光学常量；介电张量非对角元 中图分类号： ； 文献标识码： ： ／ Ｏ４４１．６Ｏ４８４．５ Ａ ＤＯＩ１０．１９６５５ ．ｃｎｋｉ．１００５４６４２．２０１８．０９．００２ 　　　 　　 ｊ ［］ 磁光器件是光通信中的重要元器件 １ 为满 测光的偏振变化的手段，具有极高的灵敏度 材 ． ． 　　 足光通信的发展要求，器件体积微型化、信息密集 料的磁光克尔效应是其内在禀性的宏观体现，其 化、响应灵敏化以及实现全光控制是研究的重 大小决定于物质的介电张量的对角元和非对角 ［］ 点 ２ 为此，针对上述需求，人们对基于各种物理 元 因此，结合椭偏测量，通过磁光克尔的测试分 ． ． 机理、具有以上性能的磁光材料进行了详细地研 析可以表征材料介电张量的非对角元 本文通过 ． ［ ］ 究 ３６ ．而在对这些材料的研究和应用过程中，对 磁光的理论分析，结合磁光参量和光学参量，推导 材料的光学性能表征既是应用的前提，也是进一